[发明专利]一种用于MCU芯片的全自动测试系统

说明书

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于MCU芯片的全自动测试系统，包括：计算机；外供直流电源，外供直流电源为测试主板提供电源电压；测试主板分别连接计算机与外供直流电源，测试主板包括：主控芯片，主控芯片用于控制测试系统的自动化执行；被测MCU芯片，被测MCU芯片接收主控芯片的调度，并配合执行测试系统的复数个测试项；复数个执行测试单元，分别连接于主控芯片与被测MCU芯片之间，复数个执行测试单元用于分别测试复数个测试项，并由主控芯片将对应的测试数据存储至计算机。有益效果：通过采用硬件设计与软件控制的结合方式，启动测试后软件自动执行完成所有的测试，测试过程中不需要人工参与，节省了人力和时间，提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于MCU芯片的全自动测试系统。

背景技术

MCU(Microcontroller Unit，微控制器单元)，又称单片微型计算机或单片机，是一种集成CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)、Memory(存储器)、SPI(SerialPeripheral Interface，串行外设接口)、I2C(Inter－Integrated Circuit，内部集成电路串行通讯)、UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)、GPIO(General-purpose input/output，通用输入输出接口)、CAN(Controller AreaNetwork，控制器局域网络)、LIN(Local Area Network，局域内部互联网)、ADC(Analog-to-digital converter，模拟数字转换器)等功能的数模混合芯片。

目前，最接近的现有技术，测试MCU芯片需要准备多个硬件测试环境和多套软件版本，同时需要人工参与整个测试过程，因此是一项复杂并且费时的工作，需要耗费大量的人力和时间来完成大量的重复性测试工作。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种用于MCU芯片的全自动测试系统。

具体技术方案如下：

一种用于MCU芯片的全自动测试系统，其中包括：

一计算机；

一外供直流电源，所述外供直流电源为测试主板提供电源电压；

所述测试主板分别连接所述计算机与所述外供直流电源，所述测试主板包括：

一主控芯片，所述主控芯片用于控制所述测试系统；

一被测MCU芯片，所述被测MCU芯片用于接收所述主控芯片的调度，并配合执行所述测试系统的复数个测试项；

复数个执行测试单元，分别连接于所述主控芯片与所述被测MCU芯片之间，复数个所述执行测试单元用于分别测试复数个所述测试项，并由所述主控芯片将对应的测试数据存储至所述计算机。

优选的，复数个所述测试项包括被测MCU芯片的供电电源；和/或所有的单向数字信号接口；和/或所有的双向数字信号接口；和/或模拟信号接口。

优选的，复数个所述执行测试单元包括：

一电源电压测试单元，连接于所述主控芯片与所述被测MCU芯片之间，所述电源电压测试单元用于测试所述被测MCU芯片的供电电源；和/或

一单向数字信号测试单元，连接于所述主控芯片与所述被测MCU芯片之间，所述单向数字信号测试单元用于测试所有的所述单向数字信号接口；和/或

一双向数字信号测试单元，连接于所述主控芯片与所述被测MCU芯片之间，所述双向数字信号测试单元用于测试所有的所述双向数字信号接口；和/或