[发明专利]GOA测试电路、阵列基板、显示面板和GOA测试方法

说明书

本发明公开了一种GOA测试电路、阵列基板、显示面板和GOA测试方法，GOA测试电路用于对包括级联的多个GOA单元的GOA电路进行测试，多个GOA单元中至少有一个具有测试节点，测试电路包括：至少一条测试总线，测试总线与测试焊盘电连接；与至少一个具有测试节点的GOA单元一一对应的至少一个测试单元，具有测试节点的GOA单元具有至少一个测试节点，其对应的测试单元包括二级测试线和与测试节点一一对应的三级测试线，二极测试线与测试总线电连接，三级测试线与对应的测试节点电连接，在对测试节点的信号进行测试时，建立三级测试线与二极测试线之间的电连接。该测试电路，简单易实现，无需增加掩膜，且不会对显示造成影响。

技术领域

本发明涉及GOA显示领域，具体涉及一种GOA测试电路、阵列基板、显示面板和GOA测试方法

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管显示面板)因其具有体积小、功耗低、无辐射等特点，在当前平板显示器市场占据了主导地位。

随着技术的发展，越来越多的TFT-LCD产品将Gate IC(Integrated Circuit，集成电路)移位寄存器的功能通过现有工艺集成在显示面板上，以取代原先Gate Driver IC的作用，称为GOA(Gate driver On Array，阵列基板行驱动)技术。GOA产品最大的优点由于省去了Gate Driver IC，降低了成本，以及减小了产品的边框。GOA产品由于GOA区域的一些关键节点信号(如Input、Output、Reset等信号)存在级联关系，当某一行的某个或者某些信号出现异常时，会导致其他行的信号异常，出现多重输出或者无输出，因而导致显示面板的整体画面的显示异常。为了不良原因的快速分析，一般需要测试一些关键节点的信号，包括Input、Output、Reset和PU、PD、PDCN等，以综合相关的波形判断不良出现的原因。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种简单易实现的GOA测试电路，以在实现对GOA电路测试的同时，不会对显示面板的显示造成影响。

本发明的第二个目的在于提出一种阵列基板。

本发明的第三个目的在于提出一种显示面板。

本发明的第四个目的在于提出一种GOA测试方法。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种GOA测试电路，用于对显示面板的阵列基板中的GOA电路进行测试，所述GOA电路包括级联的多个GOA单元，所述多个GOA单元中至少有一个具有测试节点，所述GOA测试电路设置在所述多个GOA单元所在区域中，所述GOA测试电路包括：至少一条测试总线，所述测试总线与设置在所述显示面板的测试焊盘电连接；与至少一个具有测试节点的GOA单元一一对应的至少一个测试单元，所述具有测试节点的GOA单元具有至少一个测试节点，该GOA单元对应的测试单元包括至少一条二级测试线和与所述至少一个测试节点一一对应的至少一条三级测试线，所述二极测试线与所述测试总线电连接，所述三级测试线与对应的测试节点电连接，其中，在对所述测试节点的信号进行测试时，建立所述三级测试线与所述二极测试线之间的电连接。

根据本发明实施例的GOA测试电路，通过在多个GOA单元所在区域中设置测试总线、二级测试线和三级测试线，且二极测试线与测试总线电连接，三级测试线与GOA单元的测试节点电连接，在对测试节点的信号进行测试时，只需建立该测试节点对应的三级测试线与二极测试线之间的电连接即可。该GOA测试电路，简单易实现，无需增加掩膜，且不会对显示造成影响。

另外，根据本发明上述实施例的GOA测试电路还可以具有如下附加技术特征：