[发明专利]一种用于雷达散射截面RCS标定的方法和装置有效
申请号: | 201910455642.3 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110146859B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 杨萍;慈颖;陈浩;党宏杰;邓洛凤 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63921部队 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S7/41 |
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地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 雷达 散射 截面 rcs 标定 方法 装置 | ||
1.一种用于雷达散射截面RCS标定的方法,包括:
对卫星执行RCS测量,以形成RCS二维数据表,其中所述卫星具有不完全规则的外形,该不完全规则的外形通过将具有规则几何外形的雷达反射体载荷加装在卫星平台上而形成;以及
利用雷达方程并且结合RCS二维数据表,对RCS测量K值进行标定;
其中,利用下式(1)对K值进行标定:
Ps:雷达回波功率;
Pr:雷达发射功率:
R:雷达与标校体间的距离;
G:雷达天线增益;
σ:卫星整星的反射截面;
分别为卫星在雷达观测坐标系下的方位、俯仰角;
值由查表获得,G、Pr为常值,Ps、R由雷达获取。
2.根据权利要求1所述的方法,其中根据测量信号和测量姿态对卫星执行RCS测量,所述测量信号包括至少频点和极化的组合,所述测量量姿态在所述雷达反射体载荷可提供的标校角度范围内进行抽样覆盖,姿态角度包括方位和俯仰两个维度。
3.根据权利要求1所述的方法,其中利用下式(2)对K值求平均值:
其中i代表第i次采样,当i>100时,取其算术平均值为最终结果。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述卫星平台具有对称、规则的外形。
5.一种用于雷达散射截面RCS标定的装置,包括:
雷达反射体载荷,其具有规则的几何外形;
卫星平台,其用于承载所述雷达反射体载荷,并且当所述雷达反射体载荷承载于所述卫星平台上时,构成不完全规则外形,
其中所述雷达反射体载荷配置成接收来自于地面雷达的照射电磁波,以便辅助对RCS测量K值进行标定,
其中标定包括利用雷达方程并且结合对卫星执行RCS测量所获得的RCS二维数据表,对RCS测量K值进行标定;
其中,利用下式(1)对K值进行标定:
Ps:雷达回波功率;
Pr:雷达发射功率:
R:雷达与标校体间的距离;
G:雷达天线增益;
σ:卫星整星的反射截面;
分别为卫星在雷达观测坐标系下的方位、俯仰角,
值由查表获得,G、Pr为常值,Ps、R由雷达获取。
6.根据权利要求5所述的装置,其中根据测量信号和测量姿态对卫星执行RCS测量,所述测量信号包括至少频点和极化的组合,所述测量量姿态在所述雷达反射体载荷可提供的标校角度范围内进行抽样覆盖,姿态角度包括方位和俯仰两个维度。
7.根据权利要求5所述的装置,其中利用下式(2)对K值求平均值:
其中i代表第i次采样,当i>100时,取其算术平均值为最终结果。
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