[发明专利]一种基于伪距测量特征值提取的ARAIM故障检测方法有效
申请号: | 201910403788.3 | 申请日: | 2019-05-15 |
公开(公告)号: | CN110068840B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 王志鹏;朱衍波;高臻;方继嗣;杜镜天 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S19/23 | 分类号: | G01S19/23 |
代理公司: | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人: | 庞立岩;顾珊 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 测量 特征值 提取 araim 故障 检测 方法 | ||
1.一种基于伪距测量特征值提取的ARAIM故障检测方法,其特征在于,所述方法包括如下方法步骤:
计算各个故障模式下的完好性风险总和,以及完好性风险值的最大值,其中,
各个故障模式下的完好性风险总和通过如下方法计算:
其中,L为阈值,xq表示用户真实位置,表示全可见星解,是故障模式k下的子集定位解,PL为保护级,P某一故障模式发生的概率;
所述完好性风险值的最大值通过如下方式计算,
其中,L为阈值,xq表示用户真实位置,表示全可见星解,是故障模式k下的子集定位解,PL为保护级,P最坏故障情况发生的概率;
利用总完好性风险,与最大故障的完好性风险的比值计算故障模式的数量,将对应的伪距测量值的样本数量作为有效样本数;
将某一时间段T,与所述有效样本数的比值,作为有效采样时间;
以所述有效采样时间,对接收机采集的伪距测量值样本进行采样,得到有效伪距测量集;
利用所述伪距有效测量集,计算检验统计量,并进行完好性故障检测。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有效样本数通过如下方法计算:
其中,PΣ各个故障模式下的完好性风险总和,PMAX完好性风险值的最大值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有效采样时间通过如下方法计算:
其中,T为某一时间段,N*为有效样本数。
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