[发明专利]一种基于伪距测量特征值提取的ARAIM故障检测方法有效

专利信息
申请号: 201910403788.3 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110068840B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 王志鹏;朱衍波;高臻;方继嗣;杜镜天 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S19/23 分类号: G01S19/23
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 庞立岩;顾珊
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 测量 特征值 提取 araim 故障 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于伪距测量特征值提取的ARAIM故障检测方法,其特征在于,所述方法包括如下方法步骤:

计算各个故障模式下的完好性风险总和,以及完好性风险值的最大值,其中,

各个故障模式下的完好性风险总和通过如下方法计算:

其中,L为阈值,xq表示用户真实位置,表示全可见星解,是故障模式k下的子集定位解,PL为保护级,P某一故障模式发生的概率;

所述完好性风险值的最大值通过如下方式计算,

其中,L为阈值,xq表示用户真实位置,表示全可见星解,是故障模式k下的子集定位解,PL为保护级,P最坏故障情况发生的概率;

利用总完好性风险,与最大故障的完好性风险的比值计算故障模式的数量,将对应的伪距测量值的样本数量作为有效样本数;

将某一时间段T,与所述有效样本数的比值,作为有效采样时间;

以所述有效采样时间,对接收机采集的伪距测量值样本进行采样,得到有效伪距测量集;

利用所述伪距有效测量集,计算检验统计量,并进行完好性故障检测。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有效样本数通过如下方法计算:

其中,PΣ各个故障模式下的完好性风险总和,PMAX完好性风险值的最大值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有效采样时间通过如下方法计算:

其中,T为某一时间段,N*为有效样本数。

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