[发明专利]对芯片数据异常处理逻辑的验证装置和方法

权利要求书

1.一种对芯片数据异常处理逻辑的验证装置，基于寄存器抽象模型，其特征在于，所述寄存器抽象模型中包括：

造错函数，用于为待测设计中存储器的存储记录产生数据异常，并且将存储器对应所述存储记录的标识位，设置为数据异常标识，所述造错函数根据预设错误设置以及校验算法的类型，对需要造错的存储记录中的非校验数据选取相应字段进行翻转，实现数据异常的产生；

存储器读写逻辑，用于对存储器执行读或写操作；

数据异常处理逻辑，当读取所述标识位为数据异常标识时，所述寄存器抽象模型调用所述数据异常处理逻辑进行校验计算，进而使所述寄存器抽象模型与待测设计的校验计算结果在比较器中自动匹配。

2.如权利要求1所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证装置，其特征在于，所述预设错误设置包括：需要被造错记录的地址、错误的比特数、存储器名以及校验算法。

3.如权利要求1所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证装置，其特征在于，所述造错函数通过直接编程接口对所述相应字段翻转。

4.如权利要求1所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证装置，其特征在于，所述存储器读写逻辑对存储器中的存储记录执行写操作操作时，将存储记录的数据异常标识清除。

5.一种对芯片数据异常处理逻辑的验证方法，基于寄存器抽象模型，其特征在于，包括：

为待测设计中存储器的存储记录产生数据异常，包括：根据预设错误设置以及校验算法的类型，对需要造错的存储记录中的非校验数据选取相应字段进行翻转，实现数据异常的产生；

将存储器对应所述存储记录的标识位，设置为数据异常标识；

当读取所述标识位为数据异常标识时，调用所述数据异常处理逻辑进行校验计算；

所述寄存器抽象模型与待测设计的校验计算结果在比较器中自动匹配。

6.如权利要求5所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证方法，其特征在于，所述预设错误设置包括：需要被造错记录的地址、错误的比特数、存储器名以及校验算法。

7.如权利要求5所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证方法，其特征在于，所述选取相应字段进行翻转包括：通过直接编程接口对所述相应字段翻转。

8.如权利要求5所述的对芯片数据异常处理逻辑的验证方法，其特征在于，于将存储器对应所述存储记录的标识位，设置为数据异常标识后还包括：对存储器中的存储记录执行写操作操作时，将存储记录的数据异常标识清除。