[发明专利]错题识别方法、系统、可读存储介质及设备

说明书

本发明提供一种错题识别方法、系统、可读存储介质及设备，该方法包括：获取带有批改痕迹的试卷图像；分别对试卷图像中的每一试题所在的图像区域进行截取，以得到多个试题图像；分别对每一所述试题图像中的批改痕迹进行识别，并根据识别结果筛选出所有错题的试题图像；根据错题的试题图像，从题库中识别出试卷中所有做错的试题。本发明当中的错题识别方法、系统、可读存储介质及设备，通过获取带有批改痕迹的试卷图像，然后截取出每一试题的试卷图像，并对每一试题图像中的批改痕迹进行识别，从而筛选出所有错题的试题图像，最后再根据错题的试题图像，从题库中识别出试卷中所有做错的试题，实现自动对试卷中学生做错的错题进行识别。

技术领域

本发明涉及数据分析处理技术领域，特别涉及一种错题识别方法、系统、可读存储介质及设备。

背景技术

随着社会竞争的不断积累，全国人民越来越注重对学生的教育培养。目前，许多教育、培训机构，包括学校在内都会定期通过试卷来对学生进行考核，以通过考试成绩来评判学生在这一段学习期间的学习成果。

为了能够更好的作针对性培训，可以通过对学生做错的题目进行统计，然后挑选出错误率较高的一些题目进行着重讲解，以达到事半功倍的效果，从而快速的提高学生的学习成果。

然而，现有技术当中，目前缺少一种能够对试卷中学生做错的错题进行自动识别的方法，导致错题统计只能依赖于老师来完成，增加了老师的工作量。

发明内容

基于此，本发明的目的是提供一种错题识别方法、系统、可读存储介质及设备，以解决现有技术无法对试卷中学生做错的错题进行自动识别的技术问题。

根据本发明实施例的一种错题识别方法，包括：

获取带有批改痕迹的试卷图像；

分别对所述试卷图像中的每一试题所在的图像区域进行截取，以得到多个试题图像；

分别对每一所述试题图像中的批改痕迹进行识别，并根据识别结果筛选出所有错题的试题图像；

根据所述错题的试题图像，从题库中识别出所述试卷中所有做错的试题。

另外，根据本发明上述实施例的一种错题识别方法，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，所述分别对所述试卷图像中的每一试题所在的图像区域进行截取的步骤包括：

对所述试卷图像中每个试题编号所在的位置进行识别：

以所述试题编号所在的位置作为截图边界，对所述试卷图像进行截图，以得到所述多个试题图像。

进一步地，所述试题编号所在的位置为所述试题图像的横向边界，所述试题图像的竖向边界为所述试卷图像的竖向边界以内的预设距离处。

进一步地，对所述试题图像中的批改痕迹进行识别的步骤包括：

从所述试题图像中截取所述批改痕迹所在的图像区域，以得到批改痕迹图像；

将所述批改痕迹图像与预设的批改标准图像进行匹配，以得出所述试题图像的批改类型。

进一步地，所述根据识别结果筛选出所有错题的试题图像的步骤包括：

将所述批改类型为错题类型的所有所述试题图像归类为所述错题的试题图像。

进一步地，在所述分别对每一所述试题图像中的批改痕迹进行识别的步骤之前，还包括：

分别判断每一所述试题图像中是否存在完整的批改痕迹；

若否，则扩大截取范围，并在所述试卷图像中，重新对不存在完整的批改痕迹的试题图像对应的试题所在的图像区域进行截取；