[发明专利]检查系统以及检查系统的驱动方法在审

专利信息
申请号: 201910341946.7 申请日: 2019-04-25
公开(公告)号: CN110398495A 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 加集功士 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘文海
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检查系统 射线源部 第二室 第一室 检查对象物 驱动 隔膜卷绕 电磁波 屏蔽 照射 包围 配置 检查
【权利要求书】:

1.一种检查系统,其具备:

射线源部,其照射透过检查对象物的电磁波;

传感器部,其对所述射线源部照射且透过所述检查对象物后的所述电磁波进行检测;

存放机构,其用于存放所述检查对象物;

第一室及第二室,它们分别由对所述电磁波进行屏蔽的壁包围而成;以及

第一屏蔽部,其设置为将所述第一室与所述第二室相连,且能够开闭,

所述射线源部和所述传感器部配置于所述第一室内,

所述存放机构配置于所述第二室内。

2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,

在包围所述第二室的壁中,在所述第一屏蔽部以外的位置设置有能够开闭的第二屏蔽部。

3.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,

所述检查系统还具备搬运机构,该搬运机构对存放于所述存放机构的所述检查对象物进行保持,并使所述检查对象物通过所述第一屏蔽部而从所述第二室向所述第一室搬运、或者从该第一室向所述第二室搬运。

4.根据权利要求2所述的检查系统,其中,

所述第一屏蔽部设置在不被从所述射线源部照射的电磁波直接照射的位置。

5.根据权利要求2或4所述的检查系统,其中,

所述第一屏蔽部与所述第二屏蔽部配置为不平行。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的检查系统,其中,

所述存放机构是储料机,该储料机具有用于对所述检查对象物进行保持的保持构件。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检查系统,其中,

所述存放机构是从所述第二室外向该第二室内延伸或者贯通所述第二室的输送机。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的检查系统,其中,

所述电磁波是X射线。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的检查系统,其中,

在所述射线源部与所述传感器部之间具有对所述检查对象物进行保持的保持机构。

10.根据权利要求8所述的检查系统,其中,

所述检查对象物是将隔膜卷绕于芯部而成的隔膜卷绕体,

所述射线源部从所述隔膜卷绕体的侧面侧照射所述电磁波。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的检查系统,其中,

所述第一室与所述第二室分开,并隔着该第一室以及第二室以外的空间而配置。

12.一种检查系统的驱动方法,所述检查系统具备:

射线源部,其照射透过检查对象物的电磁波;

传感器部,其对所述射线源部照射且透过所述检查对象物后的所述电磁波进行检测;

存放机构,其用于存放所述检查对象物;

第一室及第二室,它们分别由对所述电磁波进行屏蔽的壁包围而成;以及

第一屏蔽部,其设置为将所述第一室与所述第二室相连,且能够开闭,

所述射线源部和所述传感器部配置于所述第一室内,

所述存放机构配置于所述第二室内,

其中,

所述检查系统的驱动方法包括如下步骤:

将所述检查对象物配置于照射所述电磁波的所述射线源部与所述传感器部之间;

所述传感器部对透过所述检查对象物后的所述电磁波进行检测并输出与检测到的该电磁波相应的电信号;

在所述传感器部输出所述电信号之后,将配置于照射所述电磁波的所述射线源部与所述传感器部之间的所述检查对象物向所述第二室搬出;以及

将存放于所述第二室的其他检查对象物配置于照射所述电磁波的所述射线源部与所述传感器部之间。

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