[发明专利]基于二维查找表的相位展开方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例涉及三维建模技术领域，具体而言，提供了一种基于二维查找表的相位展开方法、装置及电子设备。通过获取到的图像信息计算得到对应的主相位以及参考相位，接着将所述主相位以及参考相位带入预先建立好的二维查找表或新建立的二维查找表中，以快速查找到对应的目标参数，进而使用所述目标参数将所述主相位展开获得绝对相位。如此，简化了计算过程和计算的复杂度，使得相位展开耗时减少。

技术领域

本申请涉及三维重建技术领域，具体而言，涉及一种基于二维查找表的相位展开方法、装置及电子设备。

背景技术

相位测量轮廓术(Phase Measuring Profilometry,PMP)是一种非接触三维传感方法，这种方法采用正弦光栅投影和数字相移技术，能以较低廉的光学、电子和数字硬件设备为基础，以较高的速度和精度获取处理大量的三维数据。当一个正弦光栅图形投影到三维漫反射物体表面时，从成像系统可以获得受物体表面面形调制的变形条纹，利用离散相移技术获取N幅 (N≥3)变形光场图像，再解决高频相位进行相位展开操作，并通过频率归一化来压缩噪声和非线性等误差。

目前的互质双频相位展开法中，通常需要事先手动建立查找表，在使用查找表时，需要遍历查找表内容，过程复杂耗时。

发明内容

为了至少克服现有技术中的上述不足，本申请的目的之一在于提供一种基于二维查找表的相位展开方法，所述方法包括：

获取投射的图像对应的主频率及参考频率，其中投射的图像包括多张；

计算所述主频率对应的图像的相位得到主相位，计算所述参考频率对应的图像的相位得到参考相位；

判断所述主频率及所述参考频率与预先建立的二维查找表中的主频率及参考频率是否一致，若不一致，则根据所述主频率及参考频率建立二维查找表，若一致，则获取预先建立好的二维查找表；

按照预设规则根据所述主相位、参考相位及所述二维查找表确定目标参数，并根据所述目标参数将所述主频率对应的主相位展开得到绝对相位：

其中，建立二维查找表的步骤包括：

获取采集到的图像的分辨率；

根据所述主频率、参考频率、分辨率、参考相位、目标参数及主相位，按照以下公式建立二维查找表：

其中，S{·}为大括号内等式为0时的解，即所述目标参数，round为四舍五入取整操作，m为所述主相位，n为所述参考相位，mod为求余，f为所述主频率，f^r为所述参考频率，L为所述分辨率，k为所述目标参数。

进一步地，所述按照预设规则根据所述主相位、参考相位及所述二维查找表确定图像对应的目标参数的步骤包括：

对所述主相位及所述参考相位进行尺度变换得到目标主相位和目标参考相位；

根据所述目标主相位和所述目标参考相位，在所述二维查找表中获得与所述目标主相位及所述目标参考相位对应的所述目标参数。

进一步地，所述对所述主相位及所述参考相位进行尺度变换得到目标主相位和目标参考相位的步骤包括：

根据所述主相位按以下公式进行尺度变换，得到所述目标主相位：

其中，为所述目标主相位，round为四舍五入取整操作，φ为所述主相位，L为所述图像的分辨率；

根据所述参考相位按以下公式进行尺度变换，得到所述目标参考相位：