[发明专利]一种检测离散点轴对称性的方法在审
申请号: | 201910244116.2 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN109978942A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 张小国;谢雨臻;高烨;王慧青 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G06T7/68 | 分类号: | G06T7/68;G06T7/30 |
代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 周蔚然 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离散点 特征表达式 轴对称性 最优匹配 种检测 对称性检测 关系建立 空间分析 点序列 对称轴 轴对称 遍历 | ||
1.一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)对N个原始点(xi,yi)做镜像,生成其镜像点序列(x′i,y′i);
(2)依据临近关系建立每个原始点的临近点特征表达式,依据特征表达式寻找原始点对应镜像点;
(3)采用RANSAC算法求取最优匹配关系;
(4)如果最优匹配关系中,在一定阈值内不存在外点,则认为上述离散点是轴对称的。
2.根据权利要求1所述的一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,所述步骤(1)取原始点横坐标的相反数:si=-xi,用二元组Z记录点的对应关系,(r,s)表示原始点集中r与镜像点中s对应。
3.根据权利要求2所述的一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,所述步骤(2)具体包括以下步骤:
(21)建立离散点集中特征点i的临近特征表达方式,对每个离散点选取其最近的M个点,M为4-5个,将距离s由小到大排序,形成特征向量;
(si1,si2,…siM)
(22)如果原始离散点数少于M,则向量中空缺元素用0填充;
(23)依据特征向量计算原始点集点i和镜像点集中点j的距离;
D(i,j)=(si1-sj1)2+(si2-sj2)2+…+(siM-sjM)2
(24)比较原始点与镜像点集中各点特征向量间的距离,寻找距离最小的点,认为原始点与该镜像点为对应关系。
4.根据权利要求3所述的一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,所述步骤(3)包括以下步骤:
(31)依据如下齐次变换矩阵,若所得存在对应关系的原始点与镜像点的坐标满足该式,则为局内点;其中X′(x′,y′)为原始点,X″(x″,y″)为对应镜像点;θ为镜像点和原始点相对原点形成的角度;
X″=RX′
(32)依据匹配局内点数排序,得到局内点数从大到小的P个排列;P取4,即检测4条对称轴。
5.根据权利要求4所述的一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,所述步骤(4)包括以下步骤:
(41)依据步骤(3)得到的最优匹配关系,若某组原始点与镜像点的组合所得到的模型中,外点数为0,则认为该匹配是全匹配;
(42)利用步骤(31)坐标变换可以得到原始点集中点i对应的镜像匹配点j,查询二元组Z中镜像点j和原始点集中点k的对应关系,认为原始点i和原始点k是对称点;
由i,k两点坐标计算出对称轴公式如下:
6.根据权利要求2中所述的一种检测离散点轴对称性的方法,其特征在于,得到镜像点的方法是将镜像点关于x轴对称,即取纵坐标ti=-yi。
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