[发明专利]一种基于新型探测装置的双能CT探测系统

权利要求书

1.一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：包括射线源(2)、探测装置(3)、传送装置(4)、旋转机构(5)、结构基架(6)，所述旋转机构(5)为圆环形结构，所述旋转机构(5)安装于结构基架(6)中间位置，所述传送装置(4)两端与探测基架(6)两端的滚轴相连，垂直于旋转机构(5)平面且穿过旋转机构(5)中空部分，所述射线源(2)与多个探测装置(3)组成的探测装置组件安装于旋转机构(5)同侧，且安装中心位置关于传送装置(4)对称，其中：

所述探测装置(3)包括PCB基板(301)、低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)、滤波片(304)，所述低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)分别安装于PCB基板(301)同侧，安装位置距射线源距离相同，所述滤波片(304)安装于高能探测器组件(303)上表面。

2.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：还包括计算机系统(7)，所述低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)分别接收经滤波片(304)滤波处理后的投影图像信息，并通过旋转机构(5)发送至计算机系统(7)，其中：

所述计算机系统(7)将所得投影图像信息进行三维重建及图像融合，将低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)分别接收到的投影图像信息中长度较长的投影图像信息作为主投影，同时将长度较短部分的投影图像信息融合进主投影，再通过基材料分解法及双效应分解法计算被检物的原子序数和密度并进行展示。

3.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述射线源(2)为X光机或射线加速器。

4.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述探测装置组件为圆弧状。

5.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述旋转机构(5)带动射线源(2)、探测装置(3)进行单侧转动速度为一圈/秒至6圈/秒。

6.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)宽度相同，长度可相同也可不同。

7.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述旋转机构(5)旋转一圈时传送带(4)传送距离不大于低能探测器组件(302)、高能探测器组件(303)中投影长度较大值的二分之一。

8.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述低能探测器组件(302)包括用于将射线信号转化为可见光的闪烁体、将可见光信号转化为电信号的光电二极管，闪烁体材料为碘化铯或钨酸镉，低能探测器组件(302)中闪烁体厚度为0.2-1.5mm。

9.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述高能探测器组件(303)包括用于将射线信号转化为可见光的闪烁体、将可见光信号转化为电信号的光电二极管，闪烁体材料为碘化铯或钨酸镉，高能探测器组件(303)中闪烁体厚度为2-5mm。

10.根据权利要求1所述的一种基于新型探测装置的双能CT探测系统，其特征在于：所述滤波片(304)材料为铝、铁、铜、铅或其组合。