[发明专利]终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质，属于终端技术领域。所述方法用于测试机台，所述方法包括：对摄像头模组进行第一解析力测试，得到解析力参数的基准值，其中，进行第一解析力测试时，摄像头模组未覆盖终端盖板；对摄像头模组进行第二解析力测试，得到解析力参数的测试值，其中，进行第二解析力测试时，摄像头模组覆盖终端盖板；根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测。采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响，确定终端盖板的平整度，进而提高平整度检测结果的准确性。

技术领域

本申请实施例涉及终端技术领域，特别涉及一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质。

背景技术

随着移动终端制造工艺的不断提高，越来越多移动终端的终端盖板开始采用一体式曲面设计。比如，移动终端的屏幕盖板采用3D玻璃盖板，背盖采用2.5D玻璃盖板。

由于曲面加工过程中，可能会影响到终端盖板正对摄像头区域的平整度，因此，为了避免终端盖板对摄像头成像造成影响，需要对终端盖板进行平整度检测。其中，常用的检测方法包括牛顿环检测和面型峰值(Peak Value，PV)检测。

发明内容

本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质。所述技术方案如下：

一方面，本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测方法，所述方法用于测试机台，所述方法包括：

对摄像头模组进行第一解析力测试，得到解析力参数的基准值，其中，进行所述第一解析力测试时，所述摄像头模组未覆盖终端盖板；

对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值，其中，进行所述第二解析力测试时，所述摄像头模组覆盖所述终端盖板；

根据所述基准值和所述测试值确定所述终端盖板是否通过平整度检测。

另一方面，本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测装置，所述装置用于测试机台，所述装置包括：

第一测试模块，用于对摄像头模组进行第一解析力测试，得到解析力参数的基准值，其中，进行所述第一解析力测试时，所述摄像头模组未覆盖终端盖板；

第二测试模块，用于对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值，其中，进行所述第二解析力测试时，所述摄像头模组覆盖所述终端盖板；

检测模块，用于根据所述基准值和所述测试值确定所述终端盖板是否通过平整度检测。

另一方面，本申请实施例提供了一种测试机台，所述测试机台包括：摄像头夹具、盖板夹具、处理器以及存储器；

所述摄像头夹具用于固定摄像头模组；

所述盖板夹具用于固定终端盖板；

所述处理器与所述摄像头模组相连，用于执行所述存储器中存储的至少一条指令以实现上述方面所述的终端盖板的平整度检测方法。

另一方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有至少一条指令，所述至少一条指令用于被处理器执行以实现如上述方面所述的终端盖板的平整度检测方法。

本申请实施例中，测试机台通过对未覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试，得到解析力参数的基准值，对覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试，得到解析力参数的测试值，从而根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测；相较于相关技术中直接对终端盖板进行牛顿环检测和面型PV检测时，仅能够根据盖板厚度的一致性确定终端盖板的平整度，采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响，确定终端盖板的平整度，进而提高了平整度检测结果的准确性。

附图说明