[发明专利]终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质

权利要求书

1.一种终端盖板的平整度检测方法，其特征在于，所述方法用于测试机台，所述方法包括：

对摄像头模组进行第一解析力测试，得到解析力参数的基准值，以及进行所述第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值，其中，所述摄像头模组包括镜头组件和所述对焦组件，所述对焦组件用于控制所述镜头组件在所述摄像头模组中的位置，进行所述第一解析力测试时，所述摄像头模组未覆盖终端盖板；

对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值，以及进行所述第二解析力测试时对焦组件的对焦测试值，其中，进行所述第二解析力测试时，所述摄像头模组覆盖所述终端盖板；

若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值，且所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值小于对焦阈值，则确定所述终端盖板通过平整度检测；

若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值，和/或，所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值大于所述对焦阈值，则确定所述终端盖板未通过平整度检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值，包括：

通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦；

当对焦成功时，根据所述摄像头模组采集的图像计算所述解析力参数的所述测试值。

3.根据权利要求2述的方法，其特征在于，所述对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值之前，所述方法还包括：

获取进行所述第一解析力测试时所述对焦组件的对焦基准值；

所述通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦，包括：

基于所述对焦基准值，通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述对焦基准值，通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦，包括：

根据所述对焦基准值确定调焦区间，所述对焦基准值位于所述调焦区间；

通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦，包括：

按照目标调焦步长，通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦，所述目标调焦步长小于步长阈值。

6.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

每隔预定时间间隔，或，当测试次数达到次数阈值时，重新对所述摄像头模组进行所述第一解析力测试，并根据测试结果更新所述解析力参数的所述基准值。

7.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述解析力参数包括空间频率响应SFR参数、调制传递函数MTF参数和电视行TVline参数中的至少一种。

8.一种终端盖板的平整度检测装置，其特征在于，所述装置用于测试机台，所述装置包括：

第一测试模块，用于对摄像头模组进行第一解析力测试，得到解析力参数的基准值，以及进行所述第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值，其中，所述摄像头模组包括镜头组件和对焦组件，所述对焦组件用于控制所述镜头组件在所述摄像头模组中的位置，进行所述第一解析力测试时，所述摄像头模组未覆盖终端盖板；

第二测试模块，用于对所述摄像头模组进行第二解析力测试，得到所述解析力参数的测试值，以及进行所述第二解析力测试时对焦组件的对焦测试值，其中，进行所述第二解析力测试时，所述摄像头模组覆盖所述终端盖板；

检测模块，

用于若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值，且所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值小于对焦阈值，则确定所述终端盖板通过平整度检测；若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值，和/或，所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值大于所述对焦阈值，则确定所述终端盖板未通过平整度检测。