[发明专利]一种真空计及其工作方法有效

专利信息
申请号: 201910160225.6 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN109950319B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 向平华;徐冬冬;钟妮;彭晖;段纯刚 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/34;G01L21/00
代理公司: 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 代理人: 徐筱梅;张翔
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 真空计 及其 工作 方法
【权利要求书】:

1.一种真空计,该真空计基于平面薄膜晶体管结构,其特征在于:包括绝缘衬底(1)、三氧化钨薄膜沟道(2)、源极(3)、漏极(5)、栅极(4)及离子凝胶(6);所述源极(3)、漏极(5)与三氧化钨薄膜沟道(2)两端相连,栅极(4)与三氧化钨薄膜沟道(2)隔离,离子凝胶(6)覆盖于三氧化钨薄膜沟道(2)表面,并与栅极(4)相连;将源极(3)、漏极(5)及栅极(4)外接电压、电流测试源表,即构成所述的真空计。

2.根据权利要求1所述的真空计,其特征在于:所述绝缘衬底为刚性的LaAlO3、Al2O3、硅、石英、玻璃、柔性PET、PEN、PI有机膜、白云母、黑云母或金云母薄片。

3.根据权利要求1所述的真空计,其特征在于,所述三氧化钨薄膜为单晶、多晶或非晶;三氧化钨薄膜沟道层厚度为10~100nm,宽度为100~500μm,长度为100~2000μm。

4.根据权利要求1所述的真空计,其特征在于:所述离子凝胶为柔性、透明的;离子凝胶包括离子液体和有机聚合物,厚度为20~1000μm。

5.根据权利要求1所述的真空计,其特征在于:所述源极、漏极以及栅极为金属电极或透明导电氧化物电极;厚度为10~1200nm ;其中,所述透明导电氧化物为ITO、AZO和GAZO其中之一。

6.一种如权利要求1至5中任一项所述的真空计的工作方法,其特征在于:若向所述真空计的栅极施加2-4 V 的正向偏压,则通过测试三氧化钨薄膜沟道的阻变幅值与真空度的关系,获得真空度信息。

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