[发明专利]存储器片内自测试方法、装置和存储器

权利要求书

1.一种存储器片内自测试方法，其特征在于，应用于存储器，所述方法包括：

获取自测试信号后令所述存储器进入自测试状态；其中，当所述存储器进入自测试状态时，所述存储器的地址信号、数据信号、及读/写使能控制信号由内部提供；

在所述存储器中进行遵循一定地址选择顺序和写入/读取方式的测试算法的自测试，以在所述存储器中寻找由多个连续无故障的存储单元构成的满足预设大小的存储区域作为无故障区域；

对所述存储器的各存储单元进行测试并将存在故障的存储单元的故障信息存储到所述无故障区域；

在自测试结束后将所述无故障区域存储的首地址输出到外部端口以供读取，所述无故障区域在自测试结束后被释放并作为正常存储区域使用。

2.根据权利要求1所述的存储器片内自测试方法，其特征在于，所述存储器包括正常工作状态、及自测试状态；当所述存储器处于正常工作状态时，所述存储器的地址信号、数据信号、及读/写使能控制信号由外部端口提供。

3.根据权利要求1所述的存储器片内自测试方法，其特征在于，所述在所述存储器中寻找由多个连续无故障的所述存储单元构成的满足预设大小的存储区域作为无故障区域的方法包括：

从所述存储器的起始地址开始，按一定地址顺序依次选取多个所述存储单元以构成满足预设大小的存储区域，并保存所述存储区域的首地址、及末地址值；

对所述存储区域内的各所述存储单元进行测试，比较各所述存储单元测试得到的测试数据与预设测试数据是否一致；若不一致，则判定所述存储单元存在故障；若一致，则判定所述存储单元不存在故障；

当测试所述存储单元存在故障时，将所选的存储区域的首地址改为当前地址的下一个地址，以及将所选的存储区域的末地址依据预设大小进行相应调整；

对调整地址后的所述存储区域重新进行测试，直至找到各所述存储单元不存在故障的所述存储区域作为无故障区域；若不存在所述无故障区域，则调整所述无故障区域的大小或加入软纠错算法以再次寻找。

4.根据权利要求1所述的存储器片内自测试方法，其特征在于，所述对所述存储器的各存储单元进行测试并将存在故障的存储单元的故障信息存储到所述无故障区域的方法包括：

从所述存储器的起始地址开始，按一定地址顺序依次对所述存储器内各存储单元进行测试，比较各所述存储单元测试得到的测试数据与预设测试数据是否一致；若不一致，则判定所述存储单元存在故障；若一致，则判定所述存储单元不存在故障；

当测试所述存储单元存在故障时，测试暂时挂起并将相应故障信息依次写入所述无故障区域；

写入完成后，继续对所述存储器内各存储单元进行测试，直到所述存储器上所有存储单元测试完毕，则自测试结束。

5.根据权利要求1所述的存储器片内自测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当自测试失败时，输出特定数据至外部端口以表示测试失败；所述测试失败包括无法找到满足条件的所述无故障区域，或测试到存在故障的存储单元数量超过所述无故障区域所能容纳的故障信息数量。

6.根据权利要求1、3、4中任意一项所述的存储器片内自测试方法，其特征在于，所述无故障区域的结构取决于所需存储的故障单元信息；所述无故障区域的大小取决于所述存储器的实际容量、字线长度、及预期良率中任意一种或多种组合。