[发明专利]一种SSD开卡坏块表继承方法

说明书

本发明公开一种SSD开卡坏块表继承方法，本方法考虑到多种实际场景，保证已有的坏块信息在重新开卡或者量产的时候不被丢失。尤其是利用盘的运行信息进行弱块筛选与预测，对全数据块进行体检，可以提前剔除不良物理块，并在下次开卡或者量产的时候得到有效的继承，从而可以保存所有block的完整历史信息，防止由于异常操作或者错误导致无法继承历史坏块信息的问题，对存储系统的正常运行提供了有力的保障。

技术领域

本发明涉及一种SSD开卡坏块表继承方法，属于固态硬盘存储器技术领域。

背景技术

固态硬盘（SSD）的存储组件采用Nand Flash，Nand Flash因其自身的制作工艺和物理特性的约束，在出厂及后续使用过程中会产生不能再被用户使用的存储块(block)，常称为坏块(bad block)。SSD固件在开卡或者量产阶段会按照一定的逻辑生成坏块表(badblock table)来记录这些物理Block的位置，从而在运行过程中在选择可用block进行读写时可以跳过这些坏块。同时，在运行过程中新增的坏块信息常被存储于SSD系统块信息(block_info)结构体中，并跟随下电过程存储到nand flash中。

在SSD固件开发过程或者交付客户使用后，不可避免的会涉及到重新开卡或者量产的过程，这些过程往往会伴随着nand flash的全盘擦除过程，一旦之前建立的坏块信息丢失，将会使固件在后续运行过程中无法躲避潜在坏块而导致系统产生读失败及无法纠错的后果，进而是有效数据的丢失。因此，完善的坏块表继承方案是固件开发过程中的重要环节。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明提供一种SSD开卡坏块表继承方法，考虑到多种实际场景，保证已有的坏块信息在重新开卡或者量产的时候不被丢失。

为了解决所述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种SSD开卡坏块表继承方法，包括以下步骤：A、判断固态硬盘是否是新颗粒，如果是则执行步骤C，否则执行步骤B；B、判断开卡命令是否自带坏块表，如果是带坏块表的量产，则执行步骤H，否则执行步骤D；C、逐个块读取原厂坏块标记，判断是否为原厂坏块，如果是原厂坏块则执行步骤G，否则执行步骤E；D、扫描系统存储的块信息区域，恢复盘内保存的块信息结构体，如果存在有效数据，则执行步骤J，否则执行步骤E；E、向NAND 发送块擦除命令，并判断擦除结束状态，如果擦除失败则执行步骤G，如果擦除成功则判断开卡命令是否带有全盘巡检命令，如果有则执行步骤F，如果没有则判定为好块；F、在该块写入随机数据进行巡检校验，判断是否校验失败，如果是，则执行步骤G，如果否，则判定为好块；G、将该块记录为坏块，记录坏块信息到坏块表，待所有坏块信息获取结束则执行步骤I；H、解析开卡命令中携带的坏块表信息，然后执行步骤I；I、将已有全部的坏块信息组合成坏块表，然后将坏块表写入NAND的不同位置；J、执行复合坏块表恢复方案，形成最新的坏块表，复合坏块表恢复方案包括坏块表恢复和弱块预测筛选，坏块表恢复是读取盘上的结构体信息，基于SSD在运行时保存下来的管理信息，将已经发生过擦写失败的块标记为坏块，形成基础坏块表，弱块预测筛选是对发生过读失败以及擦写次数超过设定阈值的块进行分析，将这些块的管理信息导出到上位机，结合每个物理块的擦写次数、工作的平均温度、读失败次数及发生读错误时候未被纠错算法纠正的错误信息确定筛选规则，挑选出需要进行弱块检测的可疑块，针对这些块设计测试程序，并将此程序注入到SSD主控芯片中，待执行完毕后，根据反馈的原始比特误码率信息，挑选出弱块，结合已经形成的基础坏块表，生成最终坏块表。

进一步的，结合每个物理块的擦写次数、工作的平均温度、读失败次数及发生读错误时候未被纠错算法纠正的错误信息确定的筛选规则为：在一定温度下，擦写次数达到极限阈值的，读失败但可以通过纠错算法纠错的情况次数比其他物理课明显高出很多的以及不能纠错的标记为可疑块。

进一步的，所处测试程序是指对可疑块做读写擦测试，根据读操作的原始误码率和物理块的擦写次数，判断控制器纠错模块是否还能满足，如果认为不能掌控，就将此物理块提前标记为坏块。