[发明专利]一种SSD开卡坏块表继承方法

权利要求书

1.一种SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：包括以下步骤：A、判断固态硬盘是否是新颗粒，如果是则执行步骤C，否则执行步骤B；B、判断开卡命令是否自带坏块表，如果是带坏块表的量产，则执行步骤H，否则执行步骤D；C、逐个块读取原厂坏块标记，判断是否为原厂坏块，如果是原厂坏块则执行步骤G，否则执行步骤E；D、扫描系统存储的块信息区域，恢复盘内保存的块信息结构体，如果存在有效数据，则执行步骤J，否则执行步骤E；E、向NAND发送块擦除命令，并判断擦除结束状态，如果擦除失败则执行步骤G，如果擦除成功则判断开卡命令是否带有全盘巡检命令，如果有则执行步骤F，如果没有则判定为好块；F、在该块写入随机数据进行巡检校验，判断是否校验失败，如果是，则执行步骤G，如果否，则判定为好块；G、将该块记录为坏块，记录坏块信息到坏块表，待所有坏块信息获取结束则执行步骤I；H、解析开卡命令中携带的坏块表信息，然后执行步骤I；I、将已有全部的坏块信息组合成坏块表，然后将坏块表写入NAND的不同位置；J、执行复合坏块表恢复方案，形成最新的坏块表，复合坏块表恢复方案包括坏块表恢复和弱块预测筛选，坏块表恢复是读取盘上的结构体信息，基于SSD在运行时保存下来的管理信息，将已经发生过擦写失败的块标记为坏块，形成基础坏块表，弱块预测筛选是对发生过读失败以及擦写次数超过设定阈值的块进行分析，将这些块的管理信息导出到上位机，结合每个物理块的擦写次数、工作的平均温度、读失败次数及发生读错误时候未被纠错算法纠正的错误信息确定筛选规则，挑选出需要进行弱块检测的可疑块，针对这些块设计测试程序，并将此程序注入到SSD主控芯片中，待执行完毕后，根据反馈的原始比特误码率信息，挑选出弱块，结合已经形成的基础坏块表，生成最终坏块表。

2.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：结合每个物理块的擦写次数、工作的平均温度、读失败次数及发生读错误时候未被纠错算法纠正的错误信息确定的筛选规则为：在一定温度下，擦写次数达到极限阈值的，读失败但可以通过纠错算法纠错的情况次数比其他物理课明显高出很多的以及不能纠错的标记为可疑块。

3.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：所处测试程序是指对可疑块做读写擦测试，根据读操作的原始误码率和物理块的擦写次数，判断控制器纠错模块是否还能满足，如果认为不能掌控，就将此物理块提前标记为坏块。

4.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：步骤J中，所述管理信息包括发生读失败、写失败及擦除失败的次数统计。

5.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：判断固态硬盘是否是新颗粒的过程为：读取坏块表存放区域，判断当前有无数据，如果判断当前内容为空，则检查备份坏块表，如果所有坏块表都为空，则说明是原厂新颗粒。

6.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：步骤F中，写入随机数据进行巡检校验的过程为：将块的字线的数量等分为6份，每份选取一个字线写入随机数据，然后读取该字线，判断错误率是否超过阈值，如果超过阈值则认为校验失败。

7.根据权利要求1所述的SSD开卡坏块表继承方法，其特征在于：本方法在固态硬盘固件中实现或者集成在上位机工具中。