[发明专利]材料成像权重的确定方法、装置、介质及电子设备

权利要求书

1.一种材料成像权重的确定方法，其特征在于，包括：

获得电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的信号和噪声，包括：

采集所述电磁波中光子的分布数据和所述电磁波中光子在所述目标材料内的衰减曲线特征数据，基于所述光子的分布数据和所述衰减曲线特征数据，计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数；

其中，所述基于所述光子的分布数据和所述衰减曲线特征数据，计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数，包括：

通过公式：

计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数；其中，μ_i表示等效衰减系数，μ(E)表示能量为E的电磁波中的光子衰减系数，N₀(E)表示能量为E的电磁波中光子的计数；

基于所述信号和噪声，构建所述目标材料的信噪比函数；

最大化所述信噪比函数，确定出所述目标材料的权重系数，包括：最大化所述信噪比函数后，获得所述目标材料的权重系数计算公式：

其中，E(i)表示第i个能量区间的能量积分范围，N₀表示光子的分布，N_i表示第i个能量区间下光子的计数，c为常数，用于表征目标材料的厚度。

2.根据权利要求1所述的材料成像权重的确定方法，其特征在于，所述获得电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的信号和噪声，包括：

通过S_b,c(E)＝ω(E)N_b,c(E)表示电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的信号；

通过表示电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的噪声；其中，N_b,c(E)表示能量为E的电磁波穿过所述目标材料的平均光子数，ω(E)表示权重系数。

3.根据权利要求1所述的材料成像权重的确定方法，其特征在于，所述基于所述信号和噪声，构建所述目标材料的信噪比函数，包括：

基于所述信号和噪声，将所述目标材料的信噪比函数表示为：

其中，ω(E)表示权重系数，N_b(E)表示能量为E的电磁波穿过非目标材料的平均光子数，N_c(E)表示能量为E的电磁波穿过目标材料的平均光子数。

4.一种材料成像权重的确定装置，其特征在于，包括：

探测模块，用于获得电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的信号和噪声，

所述获得电磁波在预设能量区间下穿过目标材料的信号和噪声，包括：

采集所述电磁波中光子的分布数据和所述电磁波中光子在所述目标材料内的衰减曲线特征数据，基于所述光子的分布数据和所述衰减曲线特征数据，计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数；

其中，所述基于所述光子的分布数据和所述衰减曲线特征数据，计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数，包括：

通过公式：

计算出在所述预设能量区间内电磁波的等效衰减系数；其中，μ_i表示等效衰减系数，μ(E)表示能量为E的电磁波中的光子衰减系数，N₀(E)表示能量为E的电磁波中光子的计数；

构建模块，用于基于所述信号和噪声，构建所述目标材料的信噪比函数；

确定模块，用于最大化所述信噪比函数，确定出所述目标材料的权重系数，包括：最大化所述信噪比函数后，获得所述目标材料的权重系数计算公式：

其中，E(i)表示第i个能量区间的能量积分范围，N₀表示光子的分布，N_i表示第i个能量区间下光子的计数，c为常数，用于表征目标材料的厚度。

5.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至3中任一项所述的材料成像权重的确定方法。

6.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1至3中任一项所述的材料成像权重的确定方法。