[发明专利]一种硬笔字实现方法、装置、电子设备与存储介质在审

专利信息
申请号: 201910059940.0 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN111353356A 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 魏治平 申请(专利权)人: 鸿合科技股份有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 王刚
地址: 100086 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 硬笔 实现 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种硬笔字实现方法,其特征在于,包括:

接收书写触控指令,根据所述书写触控指令得到笔迹架构点信息,所述笔迹架构点信息包括架构点坐标和架构点半径;

根据所述笔迹架构点信息,确定笔迹连接点信息,所述笔迹连接点信息包括连接点坐标和连接点半径;

根据所述笔迹架构点信息与所述笔迹连接点信息,绘制硬笔字笔迹。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收书写触控指令,根据所述书写触控指令得到笔迹架构点信息,包括:

根据所述书写触控指令,得到笔迹触控点信息,所述笔迹触控点信息包括触控点坐标与触控点触控时间;

根据所述触控点坐标与所述触控点触控时间,求得触控点移动速度,所述笔迹触控点信息还包括所述触控点移动速度;

根据所述触控点移动速度,求得触控点压力值,所述笔迹触控点信息还包括所述触控点压力值;

对所述笔迹触控点信息进行滤波处理,得到触控点滤波信息,所述触控点滤波信息包括触控点滤波坐标与触控点滤波压力值;

根据所述触控点滤波压力值,求得触控点半径;

根据所述触控点滤波坐标与所述触控点半径,确定所述笔迹架构点信息,所述架构点坐标即为所述触控点滤波坐标,所述架构点半径即为所述触控点半径。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述触控点坐标与所述触控点触控时间,求得触控点移动速度,包括:

根据当前笔迹触控点的所述触控点坐标与前一笔迹触控点的所述触控点坐标信,求得所述当前笔迹触控点与所述前一笔迹触控点的触控点距离;

根据所述当前笔迹触控点的所述触控点触控时间与所述前一笔迹触控点的触控点触控时间,求得所述当前笔迹触控点与所述前一笔迹触控点的触控时间差;

根据所述触控点距离与所述触控时间差,求得所述当前笔迹触控点的触控点移动速度。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述触控点移动速度,求得触控点压力值,包括:

设定移动速度标准值K,并设定原始压力值为1,当所述触控点移动速度等于所述移动标准值K时,所述触控点压力值即为1;

所述触控点Pn的所述触控点压力值:

其中,Fn表示当前触控点即第n个触控点的所述触控点压力值,Fn-1表示前一个触控点的所述触控点压力值,v表示所述触控点移动速度,K表示移动速度标准值。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述笔迹触控点信息进行滤波处理,得到触控点滤波信息,包括:

当前笔迹触控点可以表示为:

Pn((x,y),t,v,F)

其中,(x,y)表示所述触控点坐标,t表示所述触控点触控时间,v表示触控点移动速度,F表示触控点压力值;

用笔迹触控点序列(P1,P2,P3,…,Pm-1,Pm)表示笔迹,循环读取所述笔迹触控点序列中的所述笔迹触控点信息;

设定对所述触控点坐标(x,y)的指数补偿系数为0.65,对所述触控点压力值F的指数补偿系数为0.9;

根据所述对所述触控点坐标(x,y)的指数补偿系数与所述对所述触控点压力值F的指数补偿系数分别对所述触控点坐标(x,y)和所述触控点压力值F进行指数滤波处理,得到所述触控点滤波坐标与所述触控点滤波压力值。

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