[发明专利]一种NOR闪存的读取电路有效
申请号: | 201910059450.0 | 申请日: | 2019-01-22 |
公开(公告)号: | CN111462802B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 汤小虎 | 申请(专利权)人: | 上海汉容微电子有限公司 |
主分类号: | G11C16/26 | 分类号: | G11C16/26 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 nor 闪存 读取 电路 | ||
本申请公开了一种NOR闪存的读取电路,包括参考电压生成模块和比较输出模块;参考电压生成模块包括第一电流源、与第一电流源串联的第一电流转电压电路、与第一电流转电压电路的输出端连接的缓冲电路,缓冲电路的输出端作为参考电压生成模块的输出端,用于进行电路缓冲并根据第一电流转电压电路的输出电压生成参考电压;比较输出模块分别与NOR存储阵列和参考电压生成模块的输出端连接,用于获取NOR存储阵列的存储状态电压信号,并将存储状态电压信号与参考电压的比较结果信号作为读取结果信号进行输出。本申请利用设置有缓冲电路的参考电压生成模块输出参考电压,有效地提高了读取速度,并且结构简单,节省了芯片面积。
技术领域
本申请涉及电力电子技术领域,特别涉及一种NOR闪存的读取电路。
背景技术
闪存(Flash Memory)是一种非易失性(断电不丢失数据)存储器,在数据存储中得到了广泛应用。常见的闪存有NOR型和NAND型,其中,NOR型闪存的基本存储单元是bit,有独立的地址线和数据线,适用于频繁随机读写的场合,例如手机内存等。随着电子技术的发展,人们对闪存读取速度和芯片面积的要求越来越高。鉴于此,提供一种满足用户更高要求的NOR闪存的读取电路,是本领域技术人员所亟需关注的。
发明内容
本申请的目的在于提供一种NOR闪存的读取电路,以便有效地提高读取速度并简化电路结构、节省芯片面积,进而提高产品经济效益。
为解决上述技术问题,本申请公开了一种NOR闪存的读取电路,包括参考电压生成模块和比较输出模块;
所述参考电压生成模块包括第一电流源、与所述第一电流源串联的第一电流转电压电路、与所述第一电流转电压电路的输出端连接的缓冲电路,所述缓冲电路的输出端作为所述参考电压生成模块的输出端,用于进行电路缓冲并根据所述第一电流转电压电路的输出电压生成参考电压;
所述比较输出模块分别与NOR存储阵列和所述参考电压生成模块的输出端连接,用于获取所述NOR存储阵列的存储状态电压信号,并将所述存储状态电压信号与所述参考电压的比较结果信号作为读取结果信号进行输出。
可选地,所述NOR存储阵列为W×K阵列,所述比较输出模块包括K个比较输出单元;W为所述NOR存储阵列的字线总数,K为所述NOR存储阵列的位线总数;
所述比较输出单元包括比较器和第二电流转电压电路;所述比较器的正相输入端与所述参考电压生成模块的输出端连接,所述比较器的反相输入端与所述第二电流转电压电路的输出端连接,所述比较器的输出端作为所述比较输出模块的一个输出端;所述第二电流转电压电路的输入端作为所述比较输出模块的一个输入端,用于与所述NOR存储阵列的一个输出端连接。
可选地,所述第一电流转电压电路包括第一PMOS管、第二PMOS管、第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、预充电NMOS管、第一电阻和第二电阻;
所述第一PMOS管的栅极与所述第二PMOS管的栅极连接,作为所述第一电流转电压电路的使能端;所述第一PMOS管的源极、所述第二PMOS管的源极均与第一电源连接,所述第一PMOS管的漏极与所述第一电阻的第一端连接;所述第二PMOS管的漏极与所述第二电阻的第一端连接;所述第一电阻的第二端与所述第一NMOS管的漏极连接,并作为所述第一电流转电压电路的输出端;所述第二电阻的第二端、所述第二NMOS管的栅极和漏极均与所述第一NMOS管的栅极连接;所述第二NMOS管的源极、所述预充电NMOS管的源极均与所述第三NMOS管的漏极和栅极连接,所述第三NMOS管的源极接地;所述预充电NMOS管的栅极作为所述第一电流转电压电路的预充电控制端,所述预充电NMOS管的漏极与所述第一NMOS管的源极连接,并作为所述第一电流转电压电路的输入端。
可选地,所述缓冲电路具体为单级放大器电路或者多级放大器电路。
可选地,所述缓冲电路包括第三PMOS管、第四PMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管和第二电流源;
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