[发明专利]检测方法、装置和存储介质

说明书

本发明提供一种检测方法、装置和存储介质，该方法包括：接收检测指令，所述检测指令用于指示对有缺陷的显示屏进行缺陷原因检测；获取电子显微镜拍摄的显示屏的图像；根据所述图像和所述显示屏的标准图像，获取所述显示屏的缺陷原因。本发明通过电子显微镜拍摄的显示屏的图像，获取显示屏中的缺陷原因，进而使得制程过程中能够在线获取显示屏的缺陷原因，用时短，检测效率高。

技术领域

本发明涉及液晶面板缺陷检测技术领域，尤其涉及一种检测方法、装置和存储介质。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，现己占据了平面显示领域的主导地位。液晶Panel部分即是液晶显示屏，是整个液晶显示器的核心部分。液晶显示屏是一种将液晶显示器件、连接件、集成电路、PCB线路板、背光源、结构件配在一起的一体化组件。液晶显示屏在制程过程中不可避免的会产生缺陷，及时发现缺陷以及对缺陷的修正，可以提高液晶显示屏的显示质量。

现有技术中，可以通过缺陷检测设备获取液晶显示屏中的缺陷的种类，以及缺陷所在的位置，但并不能获取每个缺陷形成的原因，为了获取缺陷的原因，需要将液晶显示屏中缺陷部分进行切割，制作成测试小样，认为进行原因解析，解析时间花费长，检测效率低。

发明内容

本发明提供一种检测方法、装置和存储介质，通过电子显微镜拍摄的显示屏的图像，获取显示屏中的缺陷原因，进而使得制程过程中能够在线获取显示屏的缺陷原因，用时短，检测效率高。

本发明的第一方面提供一种检测方法，包括：

接收检测指令，所述检测指令用于指示对有缺陷的显示屏进行缺陷原因检测；

获取显示屏的图像；

根据所述图像和所述显示屏的标准图像，获取所述显示屏的缺陷原因。

可选的，所述根据所述图像和所述显示屏的标准图像，获取所述显示屏的缺陷原因，包括：

对比所述图像和所述标准图像，获取所述显示屏中的缺陷的特征；

根据所述缺陷的特征，获取所述显示屏的缺陷原因。

可选的，所述根据所述缺陷的特征，获取所述显示屏的缺陷原因，包括：

若所述缺陷的特征为：所述图像中的显示屏的显示图案与所述标准图像中的显示屏的显示图案不同，则获取所述图像中的显示屏的显示图案中异常的缺陷形状或者缺陷位置；

根据所述图像中的显示屏的显示图案中异常的缺陷形状或者缺陷位置，获取所述显示屏的缺陷原因。

可选的，所述根据所述图像中的显示屏的显示图案中异常的缺陷形状或者缺陷位置，获取所述显示屏的缺陷原因，包括：

根据所述图像中的显示屏的显示图案中异常的缺陷形状，以及，预设的缺陷形状集，获取所述显示屏的缺陷原因，所述预设的缺陷形状集中包括多个缺陷形状和每个所述缺陷形状对应的缺陷原因；或者，

根据所述图像中的显示屏的显示图案中异常的缺陷位置，判断所述缺陷位置处是否有异物；

若是，则向元素分析装置发送所述缺陷位置，以使所述元素分析装置对所述缺陷位置处的所述异物进行元素分析，获取所述显示屏的缺陷原因。

可选的，所述根据所述缺陷的特征，获取所述显示屏的缺陷原因，包括：

若所述缺陷的特征为：所述图像中的显示屏的中的显示图案与所述标准图像中的显示屏的显示图案的位置不同，则确定所述显示屏的缺陷原因为曝光制程异常。

可选的，所述根据所述缺陷的特征，获取所述显示屏的缺陷原因，包括：