[发明专利]一种测量距离的方法及装置

权利要求书

1.一种测量距离的方法，其特征在于，包括：

获取第一相机的第一视线组中第一视线与投影光线组的第一交点组；

获取第二相机的第二视线组与所述投影光线组的第二交点组；

匹配所述第一交点组与所述第二交点组，得到被测物体的第一坐标；

关联所述第一交点组与所述第二交点组的匹配结果，获取所述第一视线组中其他视线与所述投影光线组的第三交点组与所述第二交点组的匹配结果，从而得到所述被测物体的其他坐标，并结合所述第一坐标得到所述被测物体的整体坐标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述匹配所述第一交点组与所述第二交点组的方法具体包括：

分别将所述第一交点组和第二交点组排序；

根据所述排序，将所述第一交点组的每个点分别与所述第二交点组的每个点进行匹配。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述第一交点组的每个点分别与所述第二交点组的每个点进行匹配的方法具体包括：

预设阈值；

判断所述第一交点组的每个点与所述第二交点组的每个点的位置差值是否在所述阈值内；

若是，则所述第一交点组的点与所述第二交点组的点匹配，将分别对应第一交点组的点和第二交点组的点的差值在阈值内的点作为候选点；否则，将分别对应第一交点组的点和第二交点组的点的差值不在阈值内的点删除。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述匹配所述第一交点组与所述第二交点组的方法还包括：

在所述候选点中选取第一标准参考点；

根据所述第一标准参考点选取并排除第一非合理点，更新所述候选点。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述候选点中选取第一标准参考点的方法具体包括：

在所述候选点中选取与所述第二交点组的交点匹配数最少的所述第一交点组中的一点为第一候选参考点；

判断所述第一候选参考点与所述第二交点组的交点匹配数是否为一；

若是，则将所述第一候选参考点与所述第二交点组的交点匹配的点作为第一标准参考点；否则在所述第二交点组的交点中选取一个交点与所述第一候选参考点匹配，将与所述第一候选参考点匹配的点作为第一标准参考点。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一标准参考点选取并排除第一非合理点的方法具体包括：

根据所述第一交点组和第二交点组的排序，判断所述第一标准参考点之前的所述第一交点组的点是否与所述第一标准参考点同序或之后的所述第二交点组的点匹配，若是，则匹配点为第一非合理点，进行排除；否则保留所述匹配点。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一标准参考点选取并排除第一非合理点的方法还包括：

根据所述第一交点组和第二交点组的排序，判断所述第一标准参考点之后的所述第一交点组的点是否与所述第一标准参考点同序或之前的所述第二交点组的点匹配，若是，则匹配点为第一非合理点，进行排除；否则保留所述匹配点。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述匹配所述第一交点组与所述第二交点组的方法还包括：

选取第二标准参考点；

根据所述第二标准参考点选取并排除第二非合理点，依次顺序或逆序迭代计算，直到所述第一交点组的所有交点与所述第二交点组的交点匹配。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述选取第二标准参考点的方法具体包括：

排除所述第一非合理点后，选取除所述第一标准参考点外，与所述第二交点组的交点匹配数最少的所述第一交点组中的一点为第二候选参考点；

判断所述第二候选参考点与所述第二交点组的交点匹配数是否为一；

若是，则将所述第二候选参考点与所述第二交点组的交点匹配的点作为第二标准参考点；否则在所述第二交点组的交点中选取一个交点与所述第二候选参考点匹配，将与所述第二候选参考点匹配的点作为第二标准参考点。