[发明专利]引入含硅颗粒的制备方法有效

专利信息
申请号: 201880083141.0 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN111566855B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 让-弗朗索瓦·佩兰;约翰·乌达尔 申请(专利权)人: 纳诺麦克斯公司
主分类号: H01M4/36 分类号: H01M4/36;H01L31/18;H01M4/38;H01M4/587;H01M4/62;C04B35/622
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 王春伟;刘继富
地址: 法国朗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 引入 颗粒 制备 方法
【说明书】:

发明涉及一种制备方法,其中将含硅的亚微米颗粒引入基质中,其特征在于,在引入所述颗粒期间,颗粒处于压实状态,其堆积密度大于0.10克/立方厘米,并且压实颗粒的比表面积至少为在彼此之间不接触的情况下单独考虑的颗粒的比表面积的70%。

技术领域

本发明涉及一种引入含硅颗粒的制备方法。其还涉及由该方法获得的产品和装置。

更具体但非限制地,本发明的领域是金属或陶瓷材料、电池或光伏电池的领域。

现有技术

用于制备引入含硅颗粒的电池的方法是已知的。

事实上,硅可以用于增加电池的存储容量。

本发明的目的是提出一种引入含硅颗粒的制备方法,该方法既实用(特别是在安全性和易操作性方面),又获得了良好的质量。

发明内容

该目的是通过一种制备方法实现的,其中将含硅的亚微米颗粒引入基质中,

其特征在于,在引入颗粒期间:

-颗粒处于压实状态,其堆积密度大于0.10克/立方厘米,并且

-压实颗粒的比表面积至少为在彼此不接触的情况下单独考虑的颗粒的比表面积的70%(优选至少90%)。

颗粒在压实状态下的比表面积通常是由Brunauer、Emmett和Teller法确定的比表面积。

处于压实状态的颗粒的比表面积优选对应于根据Brunauer、Emmett和Teller(BET)法测量的比表面积,即将分子氮吸附在处于压实状态的已知质量的颗粒的表面(通常使用BelSorp mini ii型仪器),测量在颗粒表面形成单层该气体所需的分子氮的量(使用Brunauer、Emmett和Teller(BET)理论的原理)。

在引入颗粒期间,压实颗粒优选地彼此之间不具有共价键。

可以将预先引入基质(该基质在引入颗粒后和分散之前能够被修饰或稀释)中的颗粒分散在导电或半导电的载体上,并将颗粒固定至载体。

-可由其上沉积含颗粒的层的载体制备电极。可以制备包含所述电极的电池,和/或

-可由其上分散颗粒的载体制备光伏板。

可通过从处于非压实状态的颗粒开始的压实步骤获得压实颗粒,从而在压实步骤期间颗粒不经受高于400℃的温度。

优选在颗粒不含添加剂的情况下将压实颗粒引入基质中。

颗粒优选包含未经氧化的硅的芯。

基质优选包含碳。

基质可以是金属和/或陶瓷基质。

基质可以是液体和/或固体基质。

根据本发明的另一方面,提出了一种使用根据本发明的方法获得的电池。

根据本发明的另一方面,提出了一种使用根据本发明的方法获得的光伏板。

根据本发明的另一方面,提出了一种使用根据本发明的方法获得的金属或陶瓷材料。

附图和实施方案的描述

在阅读不以任何方式构成限制的实施方式和实施方案的详细描述以及以下附图之后,本发明的其他优点和特征将变得明显:

-图1是根据本发明方法的第一实施方案和第二实施方案的步骤的流程图,以及

-图2示出了根据本发明方法的第一实施方案的不同比较结果。

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