[发明专利]测量装置及测量方法

说明书

提供一种能够基于来自测量对象的电磁波反射强度以非接触方式高精度地测量各种参数的测量装置及其关联技术。提供一种测量装置及其关联技术，所述测量装置为不与测量对象接触的非接触式，并包括：检测器，测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度；距离计，计测距测量对象的距离；以及偏离角度计测机构，计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。

技术领域

本发明涉及测量装置及测量方法。

背景技术

通常，在涂装于船舶等大型钢结构物的涂膜的膜厚测量中，对于湿涂膜使用湿膜测厚规，而对于干燥涂膜使用电磁膜厚计，都是基于接触方式的测量方法。另一方面，作为非接触方式的测量方法，已知有使用红外线的方法，例如像专利文献1所记载的那样，在能够使与测量对象的距离和角度保持一定的生产线上固定膜厚测量装置，仅被用于制造物的检查等。

另外，在专利文献2中记载了一种用到红外线反射强度的涂膜的膜厚测量装置及测量方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：特开昭63-242375号公报

专利文献2：特开2016-17164号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

在将前述涂装于像船舶内部那样具有复杂形状的大型钢结构物的涂膜作为测量对象时，若以现行的接触方式进行测量，则不仅需要在高处进行危险的作业，而且设置用于作业的脚手架将造成经济上不利。因此，希望开发非接触方式的测量方法。另外，即使在上述以外的情况下，也优选不存在对测量对象造成损伤的风险的非接触方式。

另一方面，在用到作为一种电磁波的红外线的膜厚测量方法中，能够进行检测的红外线反射强度受到距测量对象的距离、从正对测量对象偏离的偏离角度的影响。在现有的红外线膜厚测量方法中，未考虑到该影响。

本发明的目的在于提供能够基于来自测量对象的电磁波反射强度以非接触方式高精度地测量各种参数的测量装置及其关联技术。

用于解决技术问题的方案

本发明的第一方面是一种测量装置，其为不与测量对象接触的非接触式，并包括：检测器，测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度；距离计，计测距测量对象的距离；以及偏离角度计测机构，计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。

本发明的第二方面在第一方面所述的方面中，还包括振荡部，所述振荡部对测量对象照射电磁波。

本发明的第三方面在第二方面所述的方面中，所述振荡部为带温度调节功能的激光二极管。

本发明的第四方面在第二或第三方面所述的方面中，提取从所述振荡部照射的电磁波的一部分并通过与所述检测器不同的检测器来监视所述振荡部的输出变动。

本发明的第五方面在第一至第四任一方面所述的方面中，在所述偏离角度计测机构中，偏离角度基于由所述距离计计测出的距离来进行计算。

本发明的第六方面在第一至第五任一方面所述的方面中，为便携式。

本发明的第七方面在第一至第六任一方面所述的方面中，还具有偏振滤波器。

本发明的第八方面在第一至第七任一方面所述的方面中，所述电磁波为非可见光，而从所述距离计照射可见光。

本发明的第九方面在第一至第八任一方面所述的方面中，具有多个所述距离计。

本发明的第十方面在第九方面所述的方面中，还包括振荡部，所述振荡部对测量对象照射电磁波，所述距离计均在同一平面上被配置为距所述振荡部的距离相等而所述振荡部配置于所述距离计的位置的重心。