[发明专利]位置检测装置以及基于电磁感应耦合及静电耦合的位置检测方法在审
| 申请号: | 201880072381.0 | 申请日: | 2018-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN111316212A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
| 发明(设计)人: | 桂平勇次;原英之 | 申请(专利权)人: | 株式会社和冠 |
| 主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/03;G06F3/044;G06F3/046 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 任天诺;高培培 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 位置 检测 装置 以及 基于 电磁感应 耦合 静电 方法 | ||
1.一种位置检测装置,具备:传感器,在第一方向上排列有多个第一电极并且在与所述第一方向交叉的第二方向上排列有多个第二电极;及信号处理电路,连接于所述传感器,检测在所述传感器上由多个指示体指示的各个位置,
其特征在于,
所述第一电极和所述第二电极分别形成为环形电极,并且在所述信号处理电路中具有选择所述多个第一电极及所述多个第二电极的选择电路,
通过所述选择电路以在所述第一电极及所述第二电极的各个感应出感应电流的方式选择所述第一电极及所述第二电极,从而利用第一指示体与所述传感器之间的电磁感应耦合来检测所述第一指示体在所述传感器上指示的位置,并且,
通过所述选择电路以在所述第一电极及所述第二电极的各个不感应出感应电流的方式选择所述第一电极及所述第二电极,从而利用第二指示体与所述传感器之间的静电耦合来检测所述第二指示体在所述传感器上指示的位置。
2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,
在选择所述第一电极及所述第二电极时,通过形成所述第一电极及所述第二电极的所述环形电极的两端被短路,从而利用所述第二指示体与所述传感器之间的静电耦合来检测所述第二指示体在所述传感器上指示的位置。
3.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,
在选择所述第一电极及所述第二电极时,通过形成所述第一电极及所述第二电极的所述环形电极的一端被设为开放端,从而利用所述第二指示体与所述传感器之间的静电耦合来检测所述第二指示体在所述传感器上指示的位置。
4.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,
所述信号处理电路构成为,将基于所述第一指示体与所述传感器之间的电磁感应耦合的所述传感器上的所述第一指示体指示的位置的检测和基于所述第二指示体与所述传感器之间的静电耦合的所述传感器上的所述第二指示体指示的位置的检测以时间分割进行。
5.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,
所述选择电路构成为,同时选择多个形成为环形电极的所述第一电极,并且同时选择多个形成为环形电极的所述第二电极。
6.根据权利要求5所述的位置检测装置,其特征在于,
所述选择电路构成为,将形成为环形电极的所述第一电极以互相并联连接的方式同时选择多个,并且将形成为环形电极的所述第二电极以互相并联连接的方式同时选择多个。
7.根据权利要求5所述的位置检测装置,其特征在于,
所述选择电路构成为,将形成为环形电极的所述第一电极以互相串联连接的方式同时选择多个,并且将形成为环形电极的所述第二电极以互相串联连接的方式同时选择多个。
8.根据权利要求5所述的位置检测装置,其特征在于,
具备放大电路,该放大电路将在多个同时选择的第一电极通过电磁感应耦合而感应出的各个电流相加,并且将在多个同时选择的第二电极通过电磁感应耦合而感应出的各个电流相加。
9.一种基于电磁感应耦合及静电耦合的位置检测方法,是使用了传感器的基于电磁感应耦合及静电耦合的指示体位置检测方法,该传感器在第一方向上排列有多条形成为环形电极的第一电极,并且在与所述第一方向交叉的第二方向上排列有多条形成为环形电极的第二电极,
其特征在于,
通过对在所述第一方向上排列的形成为环形电极的所述第一电极和在所述第二方向上排列的形成为环形电极的所述第二电极的各个进行选择控制,从而进行基于第一指示体与所述传感器之间的电磁感应耦合的位置检测,并且,
通过以在形成为环形电极的所述第一电极及所述第二电极的各个不感应出感应电流的方式对所述第一电极及所述第二电极的各个进行选择控制,从而进行基于第二指示体与所述传感器之间的静电耦合的位置检测。
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