[发明专利]用于正电子发射断层摄影随机符合估计的松弛迭代最大似然期望最大化

权利要求书

1.一种存储指令的非瞬态存储介质，所述指令能由电子处理器(20)读取并运行以执行用于估计针对正电子发射断层摄影(PET)成像设备(12)的探测器阵列(14)的探测器(16)的单独率的方法(100)，所述方法包括：

获得针对由所述探测器阵列的所述探测器的对定义的响应线(LOR)的测量的延迟符合率；并且

通过迭代优化来生成针对所述探测器阵列的所述探测器的估计的单独率，在所述迭代优化中，每次迭代通过包括以下各项的操作来执行针对所述探测器的所述单独率的估计结果的更新：

对针对所述探测器的所述单独率的估计结果进行正向投影以生成针对所述LOR的延迟符合率的估计结果；

生成针对所述LOR的所测量的延迟符合率与针对所述LOR的所述延迟符合率的所生成的估计结果之间的定量比较结果；

对所述定量比较结果进行反向投影以生成针对所述探测器的所述单独率的校正结果；

使用所生成的校正结果来更新针对所述探测器的所述单独率的估计结果，其中，针对所述探测器阵列的所述探测器的所估计的单独率包括当所述迭代优化满足停止准则时通过所述迭代优化输出的针对所述探测器的所述单独率的估计结果；以及

根据所述单独率的所更新的估计结果来生成针对所述随机符合率的低噪声值。

2.根据权利要求1所述的非瞬态存储介质，其中，针对探测器i与探测器j之间的LOR，所述正向投影包括s_is_j，其中，s_i是针对探测器i的所述单独率的估计结果，并且s_j是针对探测器j的所述单独率的估计结果。

3.根据权利要求2所述的非瞬态存储介质，其中，针对探测器i与探测器j之间的所述LOR的所述定量比较结果包括比率或其中，R_ij是针对探测器i与探测器j之间的所述LOR的所测量的延迟符合率。

4.根据权利要求1-2中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，所述定量比较结果是针对所述LOR的所测量的延迟符合率与针对所述LOR的所述延迟符合率的所生成的估计结果的比率。

5.根据权利要求1-4中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，所述更新包括对所述校正结果进行归一化。

6.根据权利要求1-5中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，所述更新包括通过松弛项(1-λ)+λc来调整所述校正结果，其中，c是所述校正结果，并且λ是松弛因子。

7.根据权利要求1-6中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，所述迭代优化是最大似然期望最大化(ML-EM)、最小二乘最小化以及有序子集期望最大化(OSEM)中的一个。

8.根据权利要求1-7中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，针对所述探测器i的所述单独率的估计结果的所述更新包括计算等于以下项的值：

对于所有有效的i

其中，s′_i是针对探测器i的所述单独率的估计结果；{j_i}是能够与所述探测器i形成有效LOR的探测器j的集合；R_ij是针对探测器i与探测器j之间的所述LOR的所测量的延迟符合率；s′_j是针对其他探测器j的有效单独率的估计结果；并且λ是在0与1之间的松弛因子。

9.根据权利要求1-7中的任一项所述的非瞬态存储介质，其中，针对所述探测器i的所述单独率的估计结果的所述更新包括计算等于以下项的值：

对于所有有效的i

其中，s′_i是针对探测器i的所述单独率的估计结果；{j_i}是能够与所述探测器i形成有效LOR的探测器j的集合；R_ij是针对探测器i与探测器j之间的所述LOR的所测量的延迟符合率；s′_j是针对其他探测器j的单独率的估计结果；并且λ是在0与1之间的松弛因子。