[发明专利]操作装置及X射线摄影单元在审
申请号: | 201880055869.2 | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN111050649A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 古泽光一;中谷邦夫;森泽达英;和田真;小渕圭一朗 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;H01H13/66;H01H36/00;H01H89/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 车玲玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 操作 装置 射线 摄影 单元 | ||
本发明通过在必要的时机执行阈值的校正来抑制耗电。操作装置(200)具有:触敏传感器控制部(234),其基于触敏传感器输出值及阈值来判定第1触敏传感器(241)及第2触敏传感器(242)是否被接触;校正部(232),在检测到成为了装载在支架(100)上的保持状态的情况下校正阈值。
技术领域
本发明涉及操作装置及X射线摄影单元。
背景技术
专利文献1记载了一种电容式触敏传感器。专利文献1的技术中定期地校正用来判定该触敏传感器是否被接触的阈值。
(现有技术文献)
专利文献1:日本国专利申请公开公报“特开2010-191834号公报”(2010年9月2日公开)
发明内容
(发明所要解决的问题)
对操作对象装置进行遥控的操作装置中有时也会设有触敏传感器。在这样的操作装置中,检测触敏传感器是否被接触并基于该检测结果来进行各种处理。
其中,触敏传感器的灵敏度会随着操作装置所处的各种环境而发生变化。因此专利文献1的技术中定期地校正用以判定触敏传感器是否被接触的阈值。
然而若定期地校正,即,若经过了规定的时间及天数后自动进行校正,则校正上所消耗的电量就会过多。
本发明一个方面的目的是在必要的时机执行阈值的校正,从而抑制耗电。
(用以解决问题的手段)
为解决上述问题,本发明一个方面的操作装置由操作对象装置上设置的保持机构以能够装卸于该保持机构的方式来保持,且对所述操作对象装置进行遥控,该操作装置具有:一个或多个触敏传感器;接触判定部,其基于来自所述一个或多个触敏传感器的触敏传感器输出值、以及阈值,判定所述触敏传感器是否与人体有接触;保持检测部,其检测该操作装置是否成为了被装载在所述保持机构上的保持状态;校正部,其在所述保持检测部检测到成为了所述保持状态的情况下,校正所述阈值。
(发明效果)
根据本发明的一个方面,起到了通过在必要的时机执行阈值的校正来抑制耗电的效果。
附图说明
图1是具备本发明一实施方式的操作装置的X射线摄影单元的外观图。
图2是图1所示操作装置、及X射线摄影单元所具备的支架的斜视外观图。
图3的(a)~(d)是操作装置正被操作者操作时的状态示意图。
图4是图2所示操作装置被拆下了前侧套及下部盖后的状态示意图。
图5是图2所示操作装置的前侧套及前侧电极的示意图。
图6是图2所示操作装置的后侧套及后侧电极的示意图。
图7是图1所示X射线摄影单元的结构框图。
图8的(a)是操作者未接触第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值的示意图,(b)是操作者接触到第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值的示意图。
图9是图2所示的操作装置及支架的内部结构图。
图10是图2所示操作装置进行的校正处理的流程图。
图11是图2所示操作装置进行的校正的一例时序图。
图12是图2所示操作装置进行的校正的另一例时序图。
图13是图2所示操作装置进行的校正的又一例时序图。
图14是所述操作装置中的校正部进行的校正处理的流程图。
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