[发明专利]操作装置及X射线摄影单元

说明书

本发明在必要的时机执行阈值的校正，从而抑制耗电。操作装置(200)的校正部(232)在开始执行校正处理后，若触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的阈值的差在规定范围内，则将阈值变更为校正值。

技术领域

本发明涉及操作装置及X射线摄影单元。

背景技术

专利文献1揭载了一种电容式触敏传感器。专利文献1中，定期对用来判断该触敏传感器是否被接触的阈值进行校正。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1：日本国公开专利公报“特开2010-191834号公报”

发明内容

(发明概要)

(发明要解决的课题)

对操作对象装置进行遥控的操作装置中有时也设有触敏传感器。在这样的操作装置中，检测触敏传感器是否被接触，并基于该检测结果来进行各种处理。

其中，触敏传感器的灵敏度随着操作装置所处的各种环境而发生变化。因此，专利文献1中，对用来判断触敏传感器是否被接触的阈值进行定期校正。

但是，若定期校正，即，若经过规定时间及天数后自动进行校正，则当出现了因校正过程中触敏传感器被接触等而计算出错误的校正值的情况时，仍会根据该错误的校正值对阈值进行校正。结果是引起误动作。

本发明的一个方面的目的是抑制误校正。

(解决课题的手段)

为解决所述课题，本发明的一个方式的操作装置对操作对象装置进行遥控，该操作装置的特征在于，具有：一个或多个触敏传感器；接触判断部，其基于来自所述一个或多个触敏传感器的触敏传感器输出值与阈值，来判断所述触敏传感器是否被接触；以及校正部，其进行校正处理，该校正处理用以对所述阈值进行校正，所述校正处理包括触敏传感器输出值获取步骤及校正值计算步骤，其中，所述触敏传感器输出值获取步骤中，从所述一个或多个触敏传感器按照规定次数获取多个所述触敏传感器输出值，所述校正值计算步骤中，根据所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值，针对每一所述触敏传感器均计算用于对所述阈值进行校正的校正值，所述校正部在开始执行所述校正处理后，若所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若所述校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的所述阈值的差在规定范围内，则将所述阈值变更为所述校正值。

(发明的效果)。

根据本发明的一个方面，能够起到抑制误校正的效果。

附图说明

图1是将实施方式1的对操作对象装置进行操作的操作装置与支架及操作对象装置同时示出的斜视图。

图2是实施方式1的操作装置的斜视图。

图3的(a)～(d)示出了实施方式1的操作装置被操作者操作的情况。

图4示出了图2所示的操作装置的前侧套及下部盖取下后的情况。

图5示出了图2所示的操作装置的前侧套及前侧电极。

图6示出了图2所示的操作装置的后侧套及后侧电极。

图7是图1所示的X射线摄影单元的结构框图。

图8的(a)示出了操作者不接触第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值，(b)示出了操作者接触着第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值。