[发明专利]X射线成像设备及其控制方法在审
申请号: | 201880054328.8 | 申请日: | 2018-08-21 |
公开(公告)号: | CN111031918A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 韩宗澈 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01S15/08 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 朱志玲;田方 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 成像 设备 及其 控制 方法 | ||
一种X射线成像设备包括:显示器,被配置为显示与对象相关联的图形对象;输入端,被配置为通过图形对象接收对所述对象的感兴趣区域的指定;以及控制器,被配置为基于X射线源与所述对象之间的距离获得所述对象的厚度,基于对所述感兴趣区域的指定以及所述对象的厚度确定将针对所述X射线源设置的旋转中心,并且控制所述X射线源的移动以设置所述旋转中心。
技术领域
本公开涉及一种用于获得断层图像(tomogram)的X射线成像设备及其控制方法。
背景技术
X射线成像设备是用于通过向对象照射X射线并分析已经穿过对象的X射线而使用户看见对象的内部结构的装置。X射线透射率取决于对象的组织,因此可使用根据X射线透射率量化的衰减系数对对象的内部结构进行成像。
特别是,当使用断层合成设备时,不仅可获得二维投影图像,而且可获得三维体积数据和断层图像,使得可从各种角度检查病变。
发明内容
技术问题
本公开提供一种X射线成像设备及其控制方法,其中,所述X射线成像设备及其控制方法能够通过测量对象的厚度并考虑对象的厚度和由用户指定的感兴趣区域来确定X射线源的旋转中心,从而防止出现旋转中心的误差以及由此导致的深度方向上的分辨率的降低。
解决方案
根据本公开的一方面,一种X射线成像设备包括:X射线源,被配置为照射X射线;传感器,被配置为获得所述X射线源与对象之间的距离;显示器,被配置为显示与所述对象相关联的图形对象;输入端,被配置为通过在所述显示器上显示的所述图形对象接收对所述对象的感兴趣区域的指定;以及控制器,被配置为基于获得的所述X射线源与所述对象之间的距离来获得所述对象的厚度,基于通过所述输入端接收的对所述对象的感兴趣区域的指定以及获得的所述对象的厚度来确定所述X射线源的旋转中心,并且控制所述X射线源的移动以设置确定的所述X射线源的所述旋转中心。
所述传感器可包括立体相机、单个相机、深度相机、光电传感器、超声传感器和激光传感器中的至少一个。
所述控制器可被配置为基于所述X射线源与所述对象之间的距离以及所述X射线源与X射线检测器之间的距离来获得所述对象的厚度。
所述传感器还可被配置为检测所述X射线源与所述X射线检测器之间的距离。
所述显示器可被配置为显示所述X射线源与所述对象之间的距离以及所述对象的厚度。
所述显示器可被配置为将与所述对象相关联的图形对象显示为与所述对象的厚度成比例。
所述控制器可被配置为:基于在所述图形对象上指定的所述感兴趣区域的位置与所述对象的厚度之间的关系来确定所述感兴趣区域在厚度方向上的位置,并且将确定的在厚度方向上的位置确定为所述旋转中心。
所述控制器可被配置为在对所述感兴趣区域的指定之前将所述对象在厚度方向上的中心设置为所述X射线源的所述旋转中心,并且所述显示器可被配置为在所述图形对象上显示关于设置的所述旋转中心的位置的信息。
所述显示器可被配置为在所述图形对象上显示所述对象的先前捕捉的断层图像。
所述X射线源可包括准直器和准直器灯,其中,所述准直器被配置为调整X射线照射区域并且所述准直器灯被配置为将可见射线照射到所述X射线照射区域中。
所述传感器还可被配置为获得相机图像,其中,所述相机图像具有通过所述可见射线形成的标记在所述对象上的引导线。
所述传感器可被配置为使用模板匹配来获得相关图像,基于所述相关图像确定所述相机图像中的所述引导线的中心的位置,并且基于所述引导线的中心的位置来获得所述X射线源与所述对象之间的距离。
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