[发明专利]用于多边缘检测的方法和装置

权利要求书

1.一种用于通过对物体进行至少一次测量来确定所述物体的材料界面的计算机实现的方法，

其中，通过所述测量生成所述物体的栅格化表示，

其中，所述栅格化表示具有多个测量点，

其中，测量点具有至少一项图像信息，该图像信息表示所述测量点的位置处所述物体的测量变量的值，

其中，所述方法具有以下步骤：

·确定所述物体的所述栅格化表示的参数设定，其中，所述参数设定将至少一个参数分配给所述表示的所述测量点的子集的每个测量点，

·将至少一个参数相关的边缘检测算子应用于所述栅格化表示的所述测量点，其中，边缘检测算子被设计成确定所述栅格化表示中至少一个材料界面的位置，

其中，在根据测量点的所述图像信息确定材料界面的位置时，所述边缘检测算子至少考虑与所述栅格化表示中的所述测量点相邻的测量点的子集的图像信息，

其中，所述边缘检测算子中的至少一个是多边缘检测算子，当应用于测量点时，所述多边缘检测算子被设计成确定所述物体中至少两个直接相邻的材料界面的位置，并且

其中，当且仅当所述测量点的至少一个参数表示多个材料界面在所述测量点周围彼此直接相邻地布置时，将所述多边缘检测算子应用于该测量点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测量点的所述图像信息包括至少一个灰度值，该灰度值表示在所述测量点的位置处所述物体的测量变量的值，并且其中，所述多边缘检测算子被设计成从测量点开始，通过将多边缘的灰度值的理论模型拟合到所述测量点周围的测量点的灰度值的曲线来确定多边缘的各个材料界面的位置。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，针对所述测量点的子集的所述参数设定将至少两个参数分配给所述子集的每个测量点，其中，对于所述子集的所述测量点，针对各被分配的参数，将参数相关的边缘检测算子应用于所述测量点。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测量点的至少一个参数定义所述栅格化表示内的分析方向，其中，当应用于测量点时，所述边缘检测算子被设计成沿由所述测量点的所述参数定义的所述分析方向确定至少一个材料界面的位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，针对所述测量点的每个子集，通过所述子集的测量点的至少两个参数定义分析方向，其中，针对每个分析方向，将至少一个边缘检测算子应用于所述测量点，该边缘检测算子沿所考虑的分析方向确定至少一个材料界面的位置。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数设定是根据被检查的物体的模型确定的。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述模型是CAD模型。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数设定是通过至少一个用户输入生成的。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述参数设定包括以下步骤：

·将至少一个单边缘检测算子应用于所述栅格化表示的所述测量点，其中，所述单边缘检测算子被设计成确定所述栅格化表示中单个材料界面的位置，

·确定针对所确定的材料界面的位置的不确定性度量，

·如果针对材料界面确定的所述不确定性度量超过定义的阈值，则将参数分配给所述材料界面周围的测量点，其中，所述参数表示多个材料界面在所述测量点的周围彼此直接相邻地布置。