[实用新型]一种BCM测试转换通用电路

权利要求书

1.一种BCM测试转换通用电路，包括第一工作电路(1)、第二工作电路(2)、第三工作电路(3)和第四工作电路(4)，其特征在于：所述第一工作电路(1)中MP14597芯片IC39的引脚2与串联电容C568和串联电容C573的引脚1和7并联接电容C557和电容C563分别接在12V_G以及GND_G上，MP14597芯片IC39的引脚6并联电阻R610和电容C565分别接在12V_G以及GND_G上，MP14597芯片IC39的引脚3和串联电阻R538和电容C579的引脚5并联还串联电感L63接在电阻R616、电容C587、C590，C592和C594的并联接口上，MP14597芯片IC39的引脚8串联电阻R539接1V0_FB_G、电阻R603和电阻R616的并联接口上，MP14597芯片IC39的引脚4接电阻R616、电容C587、C590，C592和C594另一端的并联接口还接在TP12的端口1上。

2.根据权利要求1所述的一种BCM测试转换通用电路，其特征在于：所述第二工作电路(2)中MP1484EN芯片IC51的引脚2和串联电容C570的引脚8并联电容C559和电容C556接在GND_G上，MP1484EN芯片IC51的引脚6并联电容C567、电容C560、电阻R607和电阻R604与引脚8并联接GND_G，MP1484EN芯片IC51的引脚7接电阻R609、电容C561和电容C562的并联接口，电容C561的另一端接12V_G，电容C561和电容C562的另一端共接GND_G，MP1484EN芯片IC51的引脚3和串联电容C578的引脚1并联串联电感L62接在电阻R617、电容C583、电容C586、电容C589、电容C591和电容C593的并联接口，MP1484EN芯片IC51的引脚5与电阻R617串联的电阻R615和电阻R50的并联接口，MP1484EN芯片IC51的引脚4和9并联接电阻R50、电容C583、电容C586、电容C589、电容C591和电容C593的并联接口接TP11的端角1上。

3.根据权利要求1所述的一种BCM测试转换通用电路，其特征在于：所述第三工作电路(3)MP1484EN芯片ICP2的引脚2和串联电容C604的引脚8并联电容C616和电容C615接在GND_G上，MP1484EN芯片ICP2的引脚6并联电容C605、电容C606、电阻R626和电阻R626后与引脚8并联接到GND_G上，MP1484EN芯片ICP2的引脚7接电阻R627、电容C607和电容C608的并联接口，电阻R627的另一端接12V_G，电容C607和电容C608的另一端共接GND_G，MP1484EN芯片ICP2的引脚3和串联电容C609的引脚1并联串联电感L64接在电容R610、电容R611、电容C612、电容C613和电容C614的并联接口，MP1484EN芯片ICP2的引脚5与电阻R628串联后接到电阻R634和电阻R51的并联接口上，MP1484EN芯片ICP2的引脚4和9并联接电阻R51、电容R610、电容R611、电容C612、电容C613和电容C614的并联接口，并接到TP10的端角1上。

4.根据权利要求1所述的一种BCM测试转换通用电路，其特征在于：所述第四工作电路(4)中MP1484EN芯片IC49的引脚2和串联电容C576的引脚8，并联电容C569和电容C558后接在GND_G上，MP1484EN芯片IC49的引脚6并联电容C575、电容C574、电阻R606和电阻R611后，与引脚8并联接在GND_G上，MP1484EN芯片IC49的引脚7接电阻R612、电容C571和电容C572的并联接口，电阻R612的另一端接12V_G，电容C571和电容C572的另一端共接GND_G，MP1484EN芯片IC49的引脚3和串联电容C577的引脚1并联后，串联电感L4并接在电容R580、电容R581、电容C582、电容C585、电容C588和电容C621的并联接口上，MP1484EN芯片IC49的引脚5与电阻R614串联，并接在电阻R613和电阻R18的并联接口上，MP1484EN芯片IC49的引脚4和9并联接在电阻R18、电容R580、电容R581、电容C582、电容C585、电容C588和电容C621的并联接口上，并最后连接于TP2的端角1上。