[实用新型]半导体检测治具

说明书

本实用新型实施例公开了一种半导体检测治具，该工具包括：第一框体、第二框体、第一弹性件、第二弹性件、第一伸缩件和第二伸缩件，第一框体和第二框体通过第一弹性件和第二弹性件连接，两个框体形成容置腔，用于容纳半导体。两个伸缩件分别包括两个套装的伸缩管，其中内管可以相对于外管伸缩滑动。两个内伸缩管的头端分别固定在第一框体和第二框体的一侧。本实用新型实施例提供的半导体检测治具，可以适应多种尺寸的半导体芯片的检测，并且检测效率提高。

技术领域

本实用新型实施例涉及半导体检测领域，尤其涉及一种半导体检测治具。

背景技术

目前，半导体芯片广泛应用于各种电子产品的制备，为保证半导体芯片的品质，需要对其进行合格检测。

现有技术中，常见的检测治具主要包括：多个卡件，多个卡件围绕成盛放半导体芯片的卡槽，卡槽的大小是根据需要检测的半导体芯片的尺寸进行设计的，仅仅适用于某类尺寸相同的半导体芯片的检测，检并且在检测半导体芯片的不同位置时，需要工作人员多次进行水平位置的校准，影响检测效率。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种半导体检测治具，可以适应多种尺寸的半导体芯片的检测，并且检测效率提高。

本实用新型实施例提供一种半导体检测治具，包括：第一框体、第二框体、第一弹性件、第二弹性件、第一伸缩件和第二伸缩件；

所述第一框体与所述第二框体围成容置腔，所述容置腔用于容纳半导体；

所述第一框体的开口的一侧通过所述第一弹性件与所述第二框体的开口的一侧连接；

所述第一框体的开口的另一侧通过所述第二弹性件与所述第二框体的开口的另一侧连接；

所述第一弹性件和所述第二弹性件均用于阻止所述第一框体和所述第二框体相互远离；

所述第一伸缩件，包括：第一伸缩管和第二伸缩管，所述第二伸缩管套装在所述第一伸缩管内，且所述第二伸缩管可相对于所述第一伸缩管伸缩滑动；

所述第一伸缩管的尾端设置有第一弯折结构，所述第一弯折结构用于固定半导体检测治具；

所述第二伸缩管的头端固定设置在所述第一框体的一侧；

所述第二伸缩件，包括：第三伸缩管和第四伸缩管，所述第四伸缩管套装在所述第三伸缩管内，且所述第四伸缩管可相对于所述第三伸缩管伸缩滑动；

所述第三伸缩管的尾端设置第二弯折结构，所述第二弯折结构用于固定半导体检测治具；

所述第四伸缩管的头端固定设置在所述第二框体一侧。

在一种可行的方案中，所述第一框体包括：第一挡板、第二挡板和第三挡板；

所述第二框体包括：第四挡板、第五挡板和第六挡板；

所述第一挡板的一端与所述第二挡板的一端固定连接，另一端与所述第三挡板的一端固定连接；

所述第二挡板的另一端设有第一盲孔，所述第一盲孔中设有第一横板；

所述第五挡板的一端设有第二盲孔，所述第二盲孔中设有第二横板；

所述第一弹性件的一端连接在所述第一横板上，另一端连接在所述第二横板上；

所述第三挡板的另一端设有第三盲孔，所述第三盲孔中设有第三横板；

所述第六挡板的一端设有第四盲孔，所述第四盲孔中设有第四横板；

所述第二弹性件的一端连接在所述第三横板上，另一端连接在所述第四横板上；

所述第二伸缩管的头端固定设置在所述第三挡板的一侧；