[实用新型]一种检测配准精度的标准块及其测试系统

权利要求书

1.一种检测配准精度的标准块，其特征在于，包括主板、安装在所述主板上的能够被光学追踪设备定位追踪的定位支架；

所述主板上设有配准区、测试区；其中，所述配准区用于将所述标准块的虚拟模型与所述标准块在所述光学追踪设备的坐标系中配准；所述测试区用于测试所述虚拟模型的配准精度。

2.根据权利要求1所述的一种检测配准精度的标准块，其特征在于，所述配准区包括至少1个内凹坑，且所述内凹坑表面为不规则曲面。

3.根据权利要求2所述的一种检测配准精度的标准块，其特征在于，所述配准区还包括至少1个凸块，所述凸块表面为不规则曲面。

4.根据权利要求1所述的一种检测配准精度的标准块，其特征在于，所述测试区包括至少一排N个刻度孔位，N为大于2的整数；相邻所述刻度孔位的间距相等，方向指向所述配准区。

5.根据权利要求4所述的一种检测配准精度的标准块，其特征在于，所述测试区还包括至少2个插孔，所述插孔与所述主板形成预设夹角A，其中0°<A<180°。

6.一种配准精度测试系统，其特征在于，包括如权利要求1至5任一一项权利要求所述的检测配准精度的标准块，所述配准精度测试系统还包括光学追踪设备、能够被所述光学追踪设备定位追踪的检测器具。

7.根据权利要求6所述的一种配准精度测试系统，其特征在于，所述光学追踪设备为NDI光学定位跟踪系统或深度相机。

8.根据权利要求6所述的一种配准精度测试系统，其特征在于，所述检测器具为加装定位支架的探针，所述探针用于所述标准块进行配准、检测的取点操作。