[实用新型]熔断器测试电路及集成电路

说明书

本公开是关于熔断器测试电路及集成电路，该熔断器测试电路包括熔断器和闩锁电路，闩锁电路，和所述熔断器连接，所述闩锁电路具有信号接收端，所述信号接收端用于接收触发信号，使得所述闩锁电路中的电流增大，能够将熔断器熔断。在熔断多个熔断器时，只需触发一个熔断器对应的闩锁电路即可接着触发另一个熔断器对应的闩锁电路，避免了相关技术中需要等待一个熔断器熔断接着熔断另一个熔断器，导致的测试时间长，测试效率低的问题。

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域，具体而言，涉及一种熔断器测试电路及集成电路。

背景技术

随着技术的发展和进步，集成电路的应用越来越广泛，在集成电路设计制造时，需要对集成电路进行测试。

集成电路测试时，往往需要对集成电路中的熔断器进行测试，目前，在进行集成电路测试时，若需要测试多个熔断器时，通常需要一个熔断器烧断之后，再对下一个熔断器进行熔断动作。整个测试过程耗时较多，测试效率低。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种熔断器测试电路及集成电路，进而至少在一定程度上克服相关技术中，熔断器测试时测试过程耗时多，测试效率低的问题。

根据本公开的第一方面，提供一种熔断器测试电路，包括：

熔断器；

闩锁电路，和所述熔断器连接，所述闩锁电路具有信号接收端，所述信号接收端用于接收触发信号，使得所述闩锁电路中的电流增大。

根据本公开的一实施方式，所述闩锁电路包括：

第一寄生晶体管，其第一发射极和第二发射极接收第一电源信号，集电极接收第二电源信号，基极接收第一触发信号；

第二寄生晶体管，其集电极和所述第一寄生晶体管的基极连接，集电极接收第一电源信号，基极和所述第一寄生晶体管的集电极连接，基极接收第二触发信号，第一发射极和第二发射极接收第二电源信号。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在所述第一寄生晶体管的第一发射极。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在所述第一寄生晶体管的第二发射极。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在和所述第二寄生晶体管的第一发射极。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在所述第二寄生晶体管的第二发射极。

根据本公开的一实施方式，所述闩锁电路包括：

第三寄生晶体管，其发射极接收第一电源信号，集电极接收第二电源信号，基极接收第一触发信号；

第四寄生晶体管，其集电极和所述第三寄生晶体管的基极连接，集电极接收第一电源信号，基极和所述第三寄生晶体管的集电极连接，基极接收第二触发信号，发射极接收第二电源信号。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在所述第三寄生晶体管的发射极。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器连接在所述第四寄生晶体管的发射极。

根据本公开的一实施方式，所述熔断器测试电路包括：

多个熔断器，分别连接有闩锁电路，所述熔断器和与其连接的闩锁电路形成检测单元，所述检测单元的一端连接有第一电源，另一端连接有第二电源，多个所述检测单元并联。

根据本公开的第二方面，提供一种集成电路，包括本公开提供的的熔断器测试电路。