[实用新型]电子元器件测试设备及其上料装置

说明书

本实用新型公开一种电子元器件测试设备的上料装置，该上料装置包括工作台、自动进出盘部件、自动上料部件以及原料转送部件；其中，自动进出盘部件包括布置有直线导轨的两支撑板、位于两支撑板之间的拨盘机构、位于进盘口处的分盘机构以及位于出盘口处的收盘机构；自动上料部件包括吸附机构，该吸附机构包括吸嘴、可转动的圆盘治具及与吸嘴连接的第一摆臂组件；原料转送部件包括具有多个吸头的吸盘以及与吸盘连接的第二摆臂组件。本实用新型电子元器件测试设备的上料装置能够有效的提高电子元器件的测试效率。此外，本实用新型还公开一种电子元器件测试设备。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试领域，具体涉及一种电子元器件测试设备及其上料装置。

背景技术

近年来，随着电子元器件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元器件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元器件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

然而，传统电子元器件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元器件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元器件的电性能参数，以供检测人员参考。此种检测方式，虽可满足对电子元器件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元器件的产量需求。因此，亟需一种自动化程度较高的电子元器件测试设备。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提出一种电子元器件测试设备的上料装置，以解决传统测试设备因需人工上料而导致的测试效率相对较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种电子元器件测试设备的上料装置，该上料装置包括工作台、自动进出盘部件、横跨于所述自动进出盘部件上方的自动上料部件以及设于所述自动上料部件周侧的原料转送部件；其中，所述自动进出盘部件包括布置有直线导轨的两支撑板、位于两支撑板之间用于驱动原料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的原料盘中分离一原料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空原料盘叠放至预设位置的收盘机构；所述自动上料部件包括可沿垂直原料盘移动方向往复运动的吸附机构，所述吸附机构包括吸嘴、可转动的圆盘治具及与所述吸嘴连接用于带动所述吸嘴自原料盘中吸取原料并置于所述圆盘治具中的第一摆臂组件；所述原料转送部件包括具有多个吸头的吸盘以及与所述吸盘连接用于带动所述吸盘自所述圆盘治具中吸取原料的第二摆臂组件。

优选地，所述分盘机构包括分别设置在所述两支撑板上用于叠放原料盘的承载组件以及用于举升或下降所述原料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述原料盘的两侧设有凹槽；所述承载组件包括可沿垂直支撑板的方向往复运动的联动板，所述联动板包括在原料盘移动方向上间隔设置并位于所述支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；所述第一升降组件包括可沿垂直所述工作台的方向往复运动的传动板以及设于所述传动板上且贯穿所述工作台的导柱，在所述导柱的顶端设置有升降板。

优选地，所述收盘机构包括在所述支撑板上并沿原料盘移动方向上间隔设置的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件，所述第二升降组件与第一升降组件的结构相同；所述定位支撑组件包括固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的原料盘的推动下朝向所述支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。

优选地，所述拨盘机构包括布置在所述工作台上的线性模组以及与所述线性模组的执行端连接的拨杆。