[实用新型]一种近场电磁波测量系统

说明书

本实用新型公开了一种近场电磁波测量系统，二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头；上位机与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪的输入端与近场测量探头相连，输出端与样品相连，样品放置在水平调节装置上；水平调节装置固定在升降台上；升降台固定在二维平面坐标移动系统上；近场测量探头固定于样品上方空间。本实用新型既可用于波导(谐振腔、光子晶体、负折射材料等)样品测量，又可以用于在开放环境中的天线样品的测量，仅需方便的调整部分部件即实现，可以有效的解决实验成本过高问题，同时用于多种样品的测量还可以有效的节约实验时间和空间。

背景技术

本实用新型属于微波近场测量技术领域，具体涉及一种近场电磁波测量系统背景技术

微波近场测量技术对环境要求低，不需要造价昂贵的暗室环境，也不需要对射频系统有很高的要求，对设备的要求较低，近场测量通过对样品的表面做扫描运动，采集样品近场区域辐射场的数据，然后通过近场远场变换由计算机用近场数据推出远场数据。只要保证测量精度就可得出较为准确的远场特性。

现有的技术方案是不同的样品需要选用不同的测量设备和方法，才能扫描测量样品近场的电磁波的幅度和相位，获得电磁波的分布图。

针对波导(谐振腔体、光子晶体、负折射材料)样品测量是需要有一个相对密闭的空间将电磁波束缚在空间内；这就需要一套针对波导(谐振腔体、光子晶体、负折射材料)的测量系统和方法。

对天线的测量就是一个开放型的空间测量，就需要更换另一类无束缚的测量系统和方法。这样的测试系统本身的检测方式比较单一、局限性大。针对不同样品配备不同的测量系统会增加资金成本，并且在做两个不同的测量时需要实验员对不同的两套测量系统进行调试和设置增加工作时间，并且两台不同的测试系统和方法也会造成实验空间的挤占。

发明内容

本实用新型的目的是克服已有技术的缺陷，为了解决测量系统的功能单一问题，提出一种近场电磁波测量系统。

本实用新型的近场电磁波测量系统包括：二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头；上位机与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪的输入端通过射频连接线与近场测量探头相连，矢量网络分析仪的输出端通过射频连接线与样品相连，样品放置在水平调节装置上；水平调节装置固定在升降台上；升降台固定在二维平面坐标移动系统上；近场测量探头固定于样品上方空间；所述的二维平面移动系统通过上位机控制带动升降台在X轴和Y轴方向的移动，升降台用于调节水平调节装置的高度。

作为本实用新型的优选方案，所述的近场电磁波测量系统还包括可拆卸式上板束波装置；二维平面移动系统、升降台和水平调节装置均设置在所述可拆卸式上板束波装置内；可拆卸式上板束波装置包括上板、框架；所述上板为金属板；所述样品位于上板和水平调节装置之间。框架最好是用非金属，框架四个侧壁可以使用非金属的挡板，也可以不要挡板，但绝对不能要金属挡板。

作为本实用新型的优选方案，所述的上板中间区域开设有探测口，近场测量探头通过可拆卸式上板束波装置上的探测口后被夹持固定于样品上方空间；或者近场测量探头被夹持固定在探测口内，探头针头与上板下表面平行。

作为本实用新型的优选方案，所述的近场电磁波测量系统还包括可拆卸式探头夹持装置；近场测量探头通过可拆卸式探头夹持装置夹持固定于样品上方空间，可拆卸式探头夹持装置为非金属材质。

作为本实用新型的优选方案，所述的可拆卸式探头夹持装置包括基座固定块、光轴、支撑横杆、T型连接滑块、线缆线卡；基座固定块与二维平面移动系统的基座固定连接，基座固定块与光轴连接，光轴和支撑横杆通过T型连接滑块相连，近场测量探头通过线缆线卡夹持固定在支撑横杆上。