[实用新型]半导体激光器自动功能测试系统

权利要求书

1.一种半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，包括：

工作台；

光功率检测组件，用于对半导体激光器输出的光功率进行检测；所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器；所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至所述功率采集器；所述功率采集器对功率电信号进行采集；

光谱检测组件，用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测；所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪；所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上，且与所述光功率计探头对应设置；

驱动电源，用于向所述半导体激光器输出电流；及

数据处理装置，所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置；所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置；所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光功率计探头包括安装在所述工作台上的检测主体；所述检测主体包括外壳、及设置在所述外壳内的探测模组；所述外壳上设有进光口；所述探测模组设有感应部；所述探测模组的感应部与所述外壳的进光口对应；所述光谱导光光纤的输入端与所述进光口对应设置。

3.根据权利要求2所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光功率计探头还包括连接所述外壳的夹持座；所述夹持座上设有容纳槽；所述容纳槽与所述进光口对应设置。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述夹持座包括连接所述外壳的第一延伸板、连接所述第一延伸板的第二延伸板、及连接所述第二延伸板的导向块。

5.根据权利要求2所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光谱检测组件还包括第二支撑架，所述光谱导光光纤通过所述第二支撑架安装在所述工作台上；所述光谱检测组件还包括安装在所述第二支撑架上的衰减片；所述衰减片与所述光谱导光光纤的端口对应设置。

6.根据权利要求2所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，还包括光斑检测组件，所述光斑检测组件包括监测相机，所述监测相机安装在所述工作台上，所述监测相机的摄像口与所述探测模组的感应部对应。

7.根据权利要求1所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，还包括温控组件，所述温控组件包括用于承载半导体激光器的温度调节器，及连接所述温度调节器的调节驱动器，所述调节驱动器对所述温度调节器的通过电流大小及电流方向进行控制。

8.根据权利要求7所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，还包括安装在所述工作台上的隔离座、设置在所述隔离座一侧的第四支撑架、与所述第四支撑架滑动连接的引导块、连接所述第四支撑架的手柄组件、穿设在所述第四支撑架上的推杆、若干穿设在所述引导块上的导向柱、连接所述导向柱的压板、及套设在所述导向柱上的弹簧件；所述引导块与所述推杆的下端连接，所述手柄组件与所述推杆的上端连接；所述弹簧件设置在所述引导块与所述压板之间；所述温度调节器安装在所述隔离座上。

9.根据权利要求8所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述工作台上设有光纤固定架，所述光纤固定架包括连接所述工作台的底柱、连接所述底柱的支撑板、及设置在所述支撑板上的光纤夹；所述支撑板相对所述工作台表面的高度与所述光功率计探头对应设置。

10.根据权利要求1所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述工作台上设有挡光箱，所述挡光箱包括若干相互连接的侧板、及翻盖；所述侧板竖直设置在所述工作台上，所述翻盖与其中一所述侧板连接；所述光功率计探头、所述光谱导光光纤的输入端、及所述半导体激光器设置在所述挡光箱中。