[实用新型]一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置有效
| 申请号： | 201820746054.6 | 申请日： | 2018-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN208443772U | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 郭晨鋆;王黎明;于虹;刘立帅;刘洪搏;梅红伟;申元;赵晨龙 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 瓷绝缘子 红外热图 内部缺陷 光脉冲 热激励 预处理 检测装置 缺陷信息 采集 处理和分析 数据处理器 特征数据库 表面动态 采集装置 单次测量 定量计算 分析比对 红外热像 加载装置 缺陷类别 缺陷类型 相关信息 序列提供 非接触 温度场 拟合 申请 测量 直观 施加 压缩 重建 分析 | ||
1.一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括数据处理器(1)，红外热像采集装置和光脉冲热激励加载装置，其中，
所述数据处理器(1)的输出端电连接至所述红外热像采集装置；
所述红外热像采集装置包括互相电连接的红外热成像仪(3)和数据采集卡(2)；所述红外热成像仪(3)位于待测瓷绝缘子(100)的一侧；
所述光脉冲热激励加载装置包括脉冲发射装置(4)和电源箱(5)；所述脉冲发射装置(4)位于所述红外热成像仪(3)和待测瓷绝缘子(100)之间；所述电源箱(5)通过导线与所述脉冲发射装置(4)连接；
所述脉冲发射装置(4)包括遮光罩(43)及位于所述遮光罩(43)内部的高能脉冲闪光灯阵列(41)；所述遮光罩(43)的中心设有红外热成像仪镜头通孔(42)。
2.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述电源箱(5)包括脉冲触发电路(51)，能量调节电路(52)和供电电源(53)；所述供电电源(53)分别电连接至所述脉冲触发电路(51)和所述能量调节电路(52)；所述脉冲触发电路(51)和所述能量调节电路(52)的输出端分别与所述高能脉冲闪光灯阵列(41)电连接。
3.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述遮光罩(43)由位于所述高能脉冲闪光灯阵列(41)一侧的反光罩(431)及位于所述高能脉冲闪光灯阵列(41)另一侧的透明玻璃(432)围成；所述反光罩(431)位于所述红外热成像仪(3)与所述高能脉冲闪光灯阵列(41)之间；所述透明玻璃(432)位于所述待测瓷绝缘子(100)与所述高能脉冲闪光灯阵列(41)之间。
4.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述高能脉冲闪光灯阵列(41)由12支闪光灯组成，12支所述闪光灯按3×4阵列均匀排布。
5.根据权利要求4所述的一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述闪光灯发射脉冲的脉冲宽度在500μs-1000μs之间，脉冲能量大于或等于800J。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云南电网有限责任公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院，未经云南电网有限责任公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820746054.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：中空玻璃露点仪
- 下一篇：一种基于热辐射的无人机巡线缺陷检测装置
