[实用新型]一种IC功能测试座有效
| 申请号： | 201820590998.9 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN208420981U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 杨飞 | 申请（专利权）人： | 深圳市凯力迪科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市博太联众专利代理事务所(特殊普通合伙) 44354 | 代理人： | 郭晓敏 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 弹簧 双头探针 铰链 上盖 探针 底座 测试座 卡扣 卡块 电性连接 螺纹连接 镶嵌连接 本实用新型 底座表面 上盖顶部 探针组装 通讯频率 导通 孔板 阻抗 测试 维修 | ||
1.一种IC功能测试座，包括底座(1)、上盖(2)、卡扣(4)、双头探针(7)、弹簧(71)、上探针(72)、下探针(73)、卡块(8)、铰链(9)，其特征在于：所述上盖(2)底部设有铰链(9)，铰链(9)与上盖(2)为螺纹连接，所述铰链(9)底部设有底座(1)，底座(1)与铰链(9)为螺纹连接，所述上盖(2)顶部设有卡扣(4)，卡扣(4)与上盖(2)为固定连接，所述双头探针(7)内部设有弹簧(71)，弹簧(71)与双头探针(7)为镶嵌连接，所述弹簧(71)顶部设有上探针(72)，上探针(72)与弹簧(71)为电性连接，所述弹簧(71)顶部设有下探针(73)，下探针(73)与弹簧(71)为电性连接，所述底座(1)表面设有卡块(8)，卡块(8)与底座(1)为镶嵌连接。
2.根据权利要求1所述的一种IC功能测试座，其特征在于：所述底座(1)底部设有PCB板(3)，PCB板(3)与底座(1)为可拆卸连接。
3.根据权利要求1所述的一种IC功能测试座，其特征在于：所述上盖(2)表面设有压块(5)，压块(5)与上盖(2)为固定连接,压块(5)形状为长方体。
4.根据权利要求1所述的一种IC功能测试座，其特征在于：所述底座(1)内部设有IC定位框(6)，IC定位框(6)与底座(1)为镶嵌连接。
5.根据权利要求4所述的一种IC功能测试座，其特征在于：所述IC定位框(6)内部设有双头探针(7)，双头探针(7)与IC定位框(6)为镶嵌连接。
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