[实用新型]全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置

说明书

本实用新型公开了全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器和样品盘本体，所述探测器通过支架固定于工作台面的上方，所述样品盘本体的两侧卡入两个定位板的侧面，两个所述定位板的底面均固定连接有防滑垫，所述防滑垫设于工作台面上表面，左侧的所述防滑垫右侧与轴承的外圈固定连接，所述轴承的内圈与螺纹杆的一端固定连接，所述螺纹杆上活动套设有连接块，所述连接块通过蜗轮蜗杆与压板固定连接，所述压板与样品盘本体的底面相接触。本新型将样品盘本体卡入设有卡槽的定位板中，通过对其作用有横向方向上紧凑力度和竖直方向上的托举力，从而防止样品盘本体在工作台面上发生移动。

技术领域

本实用新型涉及全反射X荧光光谱仪技术领域，具体为全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置。

背景技术

X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以测定元素含量。

近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS 检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

在XRF进行探测时，待检测的样品置于样品盘中，将样品盘置于于探测器正下方进行探测，在实际操作过程中，为找到精确的探测角度，工作人员习惯性的会将仪器进行移动，这就多少会出现本已校准位置的样品盘发生滑动，从而导致探测失败。

基于上述原因，提供一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，用来将样品盘固定于探测器下方，防止工作人员的习惯性使然导致探测失败的情况。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，用来将样品盘固定于探测器下方，防止工作人员的习惯性使然导致探测失败的情况，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器和样品盘本体，所述探测器通过支架固定于工作台面的上方，所述样品盘本体的两侧卡入两个定位板的侧面，两个所述定位板的底面均固定连接有防滑垫，所述防滑垫设于工作台面上表面，左侧的所述防滑垫右侧与轴承的外圈固定连接，所述轴承的内圈与螺纹杆的一端固定连接，所述螺纹杆的右端贯穿右侧的防滑垫，所述螺纹杆上活动套设有连接块，所述连接块通过蜗轮蜗杆与压板固定连接，所述压板与样品盘本体的底面相接触。

优选的，所述螺纹杆的右端头固定有第二旋钮。

优选的，所述连接块设有两块，对应的所述蜗轮蜗杆和压板的数量也为两个。

优选的，所述定位板的一侧设有卡槽。

优选的，所述卡槽的高度与样品盘本体的高度相同。

优选的，所述连接块的侧面设有螺纹孔。

优选的，所述连接块的一侧设有第一旋钮，所述第一旋钮的转轴与蜗轮蜗杆的蜗轮固定连接，所述第一旋钮为固定旋钮。

本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型通过将样品盘两侧嵌入两块定位板中，同时在定位板下方固定连接防滑垫，将两防滑垫之间通过螺纹杆进行连接，将螺纹杆转动时可以调节两防滑垫之间的紧凑程度，在竖直方向上，通过在螺纹杆上安装蜗轮蜗杆，可以对样品盘施加向上的托举力，从而避免样品盘在工作台面上的移动；