[实用新型]全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置有效

专利信息
申请号: 201820565900.4 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN208206847U 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 陈伟 申请(专利权)人: 成都航空职业技术学院
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 何凡
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 样品盘 定位板 防滑垫 工作台 定位装置 螺纹杆 全反射 探测器 卡入 压板 轴承 本实用新型 发生移动 横向方向 面相接触 蜗轮蜗杆 支架固定 活动套 底面 卡槽 内圈 竖直 托举 紧凑 侧面
【权利要求书】:

1.全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,包括探测器(1)和样品盘本体(5),其特征在于:所述探测器(1)通过支架(2)固定于工作台面(3)的上方,所述样品盘本体(5)的两侧卡入两个定位板(4)的侧面,两个所述定位板(4)的底面均固定连接有防滑垫(6),所述防滑垫(6)设于工作台面(3)上表面,左侧的所述防滑垫(6)右侧与轴承(15)的外圈固定连接,所述轴承(15)的内圈与螺纹杆(11)的一端固定连接,所述螺纹杆(11)的右端贯穿右侧的防滑垫(6),所述螺纹杆(11)上活动套设有连接块(9),所述连接块(9)通过蜗轮蜗杆(8)与压板(7)固定连接,所述压板(7)与样品盘本体(5)的底面相接触。

2.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述螺纹杆(11)的右端头固定有第二旋钮(12)。

3.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述连接块(9)设有两块,对应的所述蜗轮蜗杆(8)和压板(7)的数量也为两个。

4.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述定位板(4)的一侧设有卡槽(14)。

5.根据权利要求4所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述卡槽(14)的高度与样品盘本体(5)的高度相同。

6.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述连接块(9)的侧面设有螺纹孔(13)。

7.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述连接块(9)的一侧设有第一旋钮(10),所述第一旋钮(10)的转轴与蜗轮蜗杆(8)的蜗轮固定连接,所述第一旋钮(10)为固定旋钮。

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