[实用新型]一种半导体抽真空封装模具有效
申请号: | 201820333033.1 | 申请日: | 2018-03-12 |
公开(公告)号: | CN208157364U | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 高小平 | 申请(专利权)人: | 南通尚明精密模具有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
代理公司: | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人: | 张红;程立民 |
地址: | 226000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装槽 模具本体 真空封装 抽真空 封装模具 半导体 本实用新型 调节器 加热轨道 连接法兰 模具基座 推料轨道 真空工艺 成品率 抽气管 定位柱 隔离槽 固定块 连接头 密封槽 填料嘴 温控器 拨料 气缸 压盖 马达 排气 模具 检修 维护 投资 | ||
本实用新型公开了一种半导体抽真空封装模具,包括真空封装模具本体、模具基座、模具压盖,在真空封装模具本体上设有抽气管、二级基座、封装槽、定位柱、一级基座、第一封装槽、填料嘴、加热轨道、封装槽固定块、排气马达、封装槽连接头、密封槽、气缸、推料轨道、连接法兰、隔离槽、第二封装槽、封装槽调节器、拨料针、温控器,真空封装模具本体通过抽真空,使产品在真空工艺条件下外观质量得到明显改善,提升其成品率,符合产业利用及推广,其结构简单,科学合理,投资成本低并且操作运行简便,维护检修十分方便。
技术领域
本实用新型涉及半导体加工技术领域,具体为一种半导体抽真空封装模具。
背景技术
作为半导体分立器件产品,为了有效保护其芯片和内部焊接引线,需要使用环氧树脂把焊接在引线框架上的芯片和引线进行封装,形成一个坚硬保护体。然而某些产品因对其性能有特别的要求,使其载芯板背面环氧树脂保护层厚度只有 0.3MM 左右。在这条件下,应用传统的封装工艺生产,其成品率低。产品外观缺陷主要体现在塑封体背面针孔、树脂填充不良和高压测试耐压值低等缺。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单,科学合理,投资成本低并且操作运行简便,维护检修十分方便的一种半导体抽真空封装模具,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体抽真空封装模具,包括真空封装模具本体、模具基座、模具压盖,所述真空封装模具本体上设有模具基座,模具基座上设有一级基座,所述一级基座的中间上方设有二级基座,所述二级基座上设有第二封装槽,所述第二封装槽的右侧设有第一封装槽,第一封装槽与第二封装槽之间设有隔离槽,所述模具基座的上方设有模具压盖,所述模具基座与模具压盖的左端均设有抽气管,所述一级基座、二级基座之间两侧连接处设有定位柱。
优选的,所述一级基座的下方边缘与右侧边缘设有连接螺柱孔,所述一级基座的上方边缘设有推料轨道,推料轨道的左端设有气缸,所述推料轨道与气缸之间设有连接法兰,一级基座的左端靠近边缘处设有封装槽连接头,封装槽连接头的一端设有拨料针,所述封装连接头的左侧中间设有抽气管,封装槽连接头的右侧设有排气马达,所述排气马达的一端与封装槽连接头的一端连接。
优选的,所述第二封装槽的一侧中间设有封装槽调节器,封装槽调节器的一端与第二封装槽的侧边连接,封装槽调节器的另一边与外侧边缘支架连接。
优选的,所述第一封装槽的上边缘与下边缘处设有封装槽固定块,所述第一封装槽的右端设有填料嘴,填料嘴的底部设有加热轨道。
优选的,所述模具压盖的内部靠近右端设有温控器。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
真空封装模具本体通过抽真空,使产品在真空工艺条件下外观质量得到明显改善,提升其成品率,符合产业利用及推广,其结构简单,科学合理,投资成本低并且操作运行简便,维护检修十分方便。
附图说明
图1为本实用新型真空封装模具本体结构示意图;
图2为本实用新型模具基座结构示意图。
图中:1、真空封装模具本体;2、模具基座;3、模具压盖;4、抽气管;5、二级基座;6、封装槽;7、定位柱;8、一级基座;9、第一封装槽;10、填料嘴;11、加热轨道;12、封装槽固定块;13、排气马达;14、封装槽连接头;15、密封槽;16、气缸;17、推料轨道;18、连接法兰;19、隔离槽;20、第二封装槽;21、封装槽调节器;22、拨料针;23、温控器。
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造