[实用新型]一种用于光学镜片检测的干涉仪有效

专利信息
申请号: 201820268138.3 申请日: 2018-02-25
公开(公告)号: CN208596025U 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 程进华 申请(专利权)人: 上饶市永盛光学有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 南昌卓尔精诚专利代理事务所(普通合伙) 36133 代理人: 罗茶根
地址: 334000 江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 激光干涉仪 步进电机 上下移动 传动带 底座 本实用新型 步行电机 光学镜片 左右两侧 从动轮 干涉仪 主动轮 干涉测量技术 底座上表面 活动连接有 人工控制 停止移动 支架内壁 固定块 上表面 输出轴 支撑杆 中央处 滑轮 检测 移动 动轮 支架 转动 电源 运转 配合
【说明书】:

实用新型涉及干涉测量技术领域,且公开了一种用于光学镜片检测的干涉仪,包括底座,所述底座的底部左右两侧活动连接有滑轮,所述底座的上表面左右两侧中央处固定连接有支架,所述底座上表面右侧固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴固定连接有主动轮,所述支架内壁顶部右侧固定连接有支撑杆。本实用新型通过步行电机、主动轮、从动轮和传动带的配合,使用时,启动步进电机,主动轮运转,引起从动轮和传动带的转动,传动带上的固定块上下移动,从而使得激光干涉仪上下移动,当激光干涉仪移动到适宜的位置时,关闭步行电机的电源,激光干涉仪停止移动并固定,移动速度可以人工控制,上下移动的更加稳定,解决了背景技术中提出的问题。

技术领域

本实用新型涉及干涉测量技术领域,具体为一种用于光学镜片检测的干涉仪。

背景技术

干涉测量技术和干涉仪在光学测量中占有重要地位。干涉测量技术是以光波干涉原理为基础进行测量的一门技术。相干光波在干涉场中产生亮、暗交替的干涉条纹,通过分析处理干涉条纹获取被测量的有关信息,当两束光亮度满足频率相同,振动方向相同以及相位差恒定的条件,两束光就会产生干涉现象,当把被测量引入干涉仪的一支光路中,干涉仪的光程差则发生变化。通过测量干涉条纹的变化量,即可以获得与介质折射率和几何路程有关的各种物理量和几何量。但是目前现有技术中的干涉仪在进行调整高度的时候是通过上下移动工作台进行调节的,调节时如发生细小的震动,将会导致待检测的光学镜片发生偏移,将会影响干涉仪测量的精准度。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种用于光学镜片检测的干涉仪,解决了上述背景技术中提出的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于光学镜片检测的干涉仪,包括底座,所述底座的底部左右两侧活动连接有滑轮,所述底座的上表面左右两侧中央处固定连接有支架,所述底座上表面右侧固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴固定连接有主动轮,所述支架内壁顶部右侧固定连接有支撑杆,支撑杆底部中央处开设有凹槽,凹槽内壁活动连接有从动轮,所述主动轮和从动轮之间传动连接有传动带,所述传动带左侧面固定连接有固定块,所述底座的上表面中央处固定连接有减震单元,所述减震单元的上表面固定连接有工作台,所述底座的上表面固定连接有支杆,所述支杆位于步进电机和减震单元之间,所述支杆的顶部固定连接有限位块,所述支杆上套接有圆环套,所述圆环套与固定块之间固定连接有第二连接杆,所述工作台的正上方设有激光干涉仪,所述圆环套与激光干涉仪之间固定连接有第一连接杆,所述圆环套上螺纹连接有螺栓,所述螺栓远离螺帽的一端贯穿圆环套的正面并抵接在支杆上。

优选的,所述限位块的长度比圆环套的直径大两厘米。

优选的,所述圆环套的内壁和支杆的表面均光滑,且圆环套的内壁涂抹有润滑油。

优选的,所述支架采用的是不锈钢支架,且支架的表面光滑。

优选的,所述滑轮的数量为四个,且四个滑轮对称分布在底座的底部。

优选的,所述支杆的横截面形状为圆形,所述支杆的直径为六厘米。

工作原理:使用时,首先通过滑轮将干涉仪移动到指定的位置进行固定,将待检测的光学镜片放置在工作台上,拧松螺栓,然后启动步进电机,主动轮运转,引起从动轮和传动带的转动,传动带上的固定块上下移动,从而使得激光干涉仪上下移动,当激光干涉仪移动到适宜的位置时,关闭步行电机的电源,激光干涉仪停止移动并固定,再拧紧螺栓,使得激光干涉仪固定的更加牢固。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种用于光学镜片检测的干涉仪。具备以下有益效果:

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