[实用新型]一种用于电离层H、He同位素测量的仪器有效
申请号: | 201820245878.5 | 申请日: | 2018-02-11 |
公开(公告)号: | CN207923780U | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 刘子恒;贺怀宇;苏菲;魏勇;李坤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 巴晓艳 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电离层 中性气体 同位素 等离子体 本实用新型 同位素测量 同位素组成 密闭空间 电离 金箔 电离层等离子体 同位素分析 测量仪器 测试分析 混合信号 剩余气体 原位测量 氢气 吸附 轰击 加热 分析 释放 | ||
1.一种用于电离层H、He同位素测量的仪器,其特征在于,所述仪器包括壳体、等离子收集盖体、气体同位素分析装置;
所述壳体中空且一端开口,所述盖体可移动的盖合所述壳体的开口端形成密闭空间;
所述等离子收集盖体包括第一侧和第二侧,盖合时,所述第一侧与所述壳体的开口端接触;
所述第一侧连接有加热装置,可控制所述加热装置为所述第一侧加热;
所述气体同位素分析装置设置在所述壳体内。
2.如权利要求1所述仪器,其特征在于,
所述气体同位素分析装置包括气体电离装置、质量分离装置、离子收集装置和氢气吸附装置;
所述气体电离装置、质量分离装置和离子收集装置依次连接。
3.如权利要求1所述仪器,其特征在于,所述第一侧材料为金;所述第二侧材料为耐高温陶瓷或刚玉;所述加热装置为阻值为10~100欧姆的电阻丝;所述壳体的材质为金属。
4.如权利要求3所述仪器,其特征在于,所述第一侧边缘设置有金垫圈。
5.如权利要求1所述仪器,其特征在于,所述仪器还包括控制所述等离子收集盖体移动、压紧的盖体移动部件。
6.如权利要求5所述仪器,其特征在于,所述盖体移动部件为机械臂;所述机械臂包括转动装置和压紧装置。
7.如权利要求2所述仪器,其特征在于,所述气体电离装置为EI离子源,所述质量分离装置为四级杆;所述离子收集装置为法拉第杯和电子倍增器;所述氢气吸附装置为锆铝泵。
8.如权利要求1-7任一所述仪器,其特征在于,所述仪器搭载在位于电离层的卫星上。
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