[实用新型]一种手持式半导体分立器件测试装置有效

专利信息
申请号: 201820126256.0 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN207703977U 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 郭胜岩;冀青 申请(专利权)人: 陕西开尔文测控技术有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 代理人: 赵登高
地址: 710119 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 半导体分立器件 测试装置 本实用新型 电子测量领域 测试半导体 发光二极管 二极管 分立器件 模拟器件 检测端 晶闸管 可控硅 三极管 增强型 电阻 电源 检测
【说明书】:

实用新型公开了一种手持式半导体分立器件测试装置,涉及电子测量领域,该手持式半导体分立器件测试装置包括电源、开关、换路键、电阻、发光二极管和检测端,本实用新型能够根据器件的性质,模拟器件工作的条件,以快捷、准确的测试半导体分立器件的质量,该装置适用于二极管、增强型MOS管、三极管、IGBT、晶闸管、可控硅等器件的检测工作。

技术领域

本实用新型涉及电子测量领域,尤其涉及一种手持式半导体分立器件测试装置。

背景技术

现有技术中,用户常常使用万用表的二极管档检测二极管、增强型MOS管、三极管、IGBT、晶闸管和可控硅等器件的质量,具体操作方式如下:

1、二极管测量PN结的二极管性质

2、三极管测量两个PN结的二极管性质。

3、MOS管和IGBT测量两反向续流二极管的性质。

4、晶闸管和可控硅测量G极到输出极的二极管的性质。

上述测试方式虽然简单,但是没有真正测量到器件真实工作过程,无法准确判断器件的好坏的。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供一种手持式半导体分立器件测试装置,够根据器件的性质,模拟器件工作的条件,以快捷、准确的测试半导体分立器件的质量,该装置适用于二极管、增强型MOS管、三极管、IGBT、晶闸管、可控硅等器件的检测工作。

本实用新型通过以下技术手段解决上述问题:

一种手持式半导体分立器件测试装置,包括电源、第一开关、第二开关、换路键、第一电路节点、第二电路节点、第一电阻、第二电阻、第一发光二极管、第二发光二极管、第一检测端和第二检测端,其中:

所述第二开关为双刀双置开关、且包括两个输入端和四个输出端;所述换路键包括四个输入端和四个输出端,换路键与第二开关配合工作用于改变换路键输出电源的极性;

所述电源的正极通过第一开关连接第二开关的第一输入端,电源的负极连接第二开关的第二输入端;

所述第二开关的第一输出端和第四输出端相互连通之后分别连接换路键的第一输入端和第二输入端,第二开关的第二输出端和第三输出端相互连通之后分别连接换路键的第三输入端和第四输入端;

所述换路键的第一输出端和第四输出端相互连通之后连接第一电路节点,换路键的第二输出端和第三输出端相互连通之后通过第一电阻连接第二电路节点;所述第二电阻连接在第一电路节点与第二电路节点之间;

所述第一发光二极管的阴极连接第一电路节点,第一发光二极管的阳极连接所述第一检测端, 所述第二发光二极管的阳极连接第一电路节点,第二发光二极管的阴极连接所述第一检测端;

所述第一检测端用于安插被测器件的阳极或阴极;所述第二检测端连接第二电路节点、且用于安插被测器件的阴极或阳极。

进一步的,还包括控制键、第三电阻和第三检测端,所述控制键的一端连接所述第一电路节点,控制键的另一端通过第三电阻连接第三检测端,所述第三检测端用于安插被测器件的控制极。

进一步的,所述换路键包括按键或按键控制继电器。

进一步的,所述被测器件包括二极管、三极管、MOS管、IGBT、晶闸管或可控硅。

进一步的,所述控制极包括三极管的基极、MOS管的门极、IGBT的门极、晶闸管的门极或可控硅的门极。

本实用新型的一种手持式半导体分立器件测试装置具有以下有益效果:

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