[发明专利]一种用于热室的磁助制样装置

说明书

本发明公开了一种用于热室的磁助制样装置，其包括有主体和用于放置样品杯的滑块，所述主体包括有主体基座、位于所述主体基座上端面一端的左放置部以及位于所述主体基座上端面另一端的右放置部，其中所述左放置部固定安装在所述主体基座上端面上；本方案中的上述磁助制样装置可以实现在热室中通过控制机械手实现样品杯的移动和夹取等操作，通过此装置，可使用机械手完成样品杯的放置、滑动以及翻转等操作，进而完成磁助制样，达到设计目的。

技术领域

本发明涉及磁助制样技术领域，具体涉及一种用于热室的磁助制样装置。

背景技术

X射线荧光法可测量固体、液体及粉体，测量快速、精密度高，操作步骤简单，方法特征性强，处理多元素共存的复杂样品时相互干扰较小，可进行多种元素同时分析。X射线荧光仪器设备简单，易于密封，在后处理分析中具有显著优势。但相比于其它测量方法，X射线荧光检出限高，在方法推广中存在一定局限性。使用磁助制样可有效降低方法检出限，扩大X射线荧光的应用范围。

磁助制样方法是使用顺磁性固相分离材料，将溶液中待测元素捕集至固相，在外加磁场作用下快速固液分离，实现捕集、分离及制样同时快速完成的制样方法。

参见附图1所示，为现有的磁助制样方法步骤示意图，其操作方法步骤如下：

(1)、取一样品杯；

(2)、取一定量的磁化树脂和样品溶液加入样品杯中；

(3)、振荡混合均匀并保持一段时间；

(4)、在杯底部施加磁场，将磁化树脂吸至杯底；

(5)、保持磁场强度，将液相从杯口倒出；

(6)、加入洗涤液重复步骤(3)-(5)洗涤磁化树脂；

(7)将样品杯直接放置在X射线荧光仪器上进行测量并解谱得到分析结果。

现有的的上述磁助制样利用双手操作，可简易完成，但在处理高放样品时，就需要在热室中借助机械手进行操作，此时就难以完成磁助制样。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种用于热室的磁助制样装置，该磁助制样装置可以在热室中通过与机械手的配合，实现样品杯的放置、滑动以及翻转等操作，进而完成热室中的磁助制样操作。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种用于热室的磁助制样装置，所述磁助制样装置包括有主体和用于放置样品杯的滑块，所述主体包括有主体基座、位于所述主体基座上端面一端的左放置部以及位于所述主体基座上端面另一端的右放置部，其中所述左放置部固定安装在所述主体基座上端面上，所述左放置部包括有其顶端设置有便于样品杯自由移动的左开口部以及设置在其上的水平左滑槽；所述右放置部与所述主体基座另一端外边缘构成可翻转的铰接连接，所述右放置部包括有其顶端设置有的便于样品杯放置的右开口部、设置在其底端上的用于产生磁场的磁构件以及设置在其上的水平右滑槽，所述右开口部其开口尺寸小于所述左开口部开口尺寸，用于形成对所述样品杯的夹持功能，所述滑块包括有滑块主体、设置在所述滑块主体上用于竖直放置样品杯的容纳槽以及水平向外延伸的一对控制杆，其中所述滑块主体可通过在所述左滑槽和右滑槽中的水平自由滑动，同步带动所述样品杯在所述左开口部和右开口部中的水平移动。

进一步，所述左放置部还包括有设置在其底端上的用于防止与样品杯底部接触的左凹槽，所述右放置部还包括有设置在其底端上的用于防止与样品杯底部接触的右凹槽。

进一步，所述右放置部其底面上设置有用于固定放置所述磁构件的安装槽。

进一步，所述磁构件为铷磁铁。

进一步，所述控制杆为圆柱形长杆。