[发明专利]稀疏校验矩阵的存储方法和读取方法有效

专利信息
申请号: 201811645901.0 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111384976B 公开(公告)日: 2023-09-05
发明(设计)人: 朱永辉;沈梓荣;文宇波;高峰;许祥滨 申请(专利权)人: 泰斗微电子科技有限公司
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 李艳丽
地址: 510000 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 稀疏 校验 矩阵 存储 方法 读取
【权利要求书】:

1.一种稀疏校验矩阵的存储方法,其特征在于,包括:

获取在多进制LDPC码的编解码过程中使用的稀疏校验矩阵;

确定所述稀疏校验矩阵中的非0元素,任一所述非0元素在所述稀疏校验矩阵中均具有相应的位置信息,所述位置信息包括行序号和列序号;

针对所述稀疏校验矩阵的每一行,逐行存储所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序号,以及所述每一行的行分隔符,所述每一行的行分隔符为所述每一行非0元素的数量;

针对所述稀疏校验矩阵的每一列,逐列存储所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序号,以及所述每一列的列分隔符,所述每一列的列分隔符为所述每一列非0元素的数量,其中,逐行和逐列存储稀疏元素的过程同时进行,所述稀疏元素包括所述稀疏校验矩阵中的非0元素。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每一行的行分隔符为所述每一行非0元素的起始位置或结束位置,所述每一列的列分隔符为所述每一列非0元素的起始位置或结束位置。

3.一种稀疏校验矩阵的读取方法,其特征在于,包括:

获取待读取的稀疏校验矩阵;

逐行或逐列读取所述待读取的稀疏校验矩阵中的非0元素;

其中,所述待读取的稀疏校验矩阵按照如下方式进行存储获得:

针对原始稀疏校验矩阵的每一行,逐行存储所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序号,以及所述每一行的行分隔符,所述每一行的行分隔符为所述每一行非0元素的数量;

针对所述原始稀疏校验矩阵的每一列,逐列存储所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序号,以及所述每一列的列分隔符,所述每一列的列分隔符为所述每一列非0元素的数量,其中,逐行和逐列存储稀疏元素的过程同时进行,所述稀疏元素包括所述稀疏校验矩阵中的非0元素。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述逐行或逐列读取所述待读取的稀疏校验矩阵中的非0元素的步骤包括:

针对所述待读取的稀疏校验矩阵的每一行,顺序读取所述每一行中的非0元素以及所述非0元素的列序号;

当读取到行分隔符时,对当前的行序号递增并转入下一行中进行读取。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述逐行或逐列读取所述待读取的稀疏校验矩阵中的非0元素的步骤包括:

针对所述待读取的稀疏校验矩阵的每一列,顺序读取所述每一列中的非0元素以及所述非0元素的行序号;

当读取到列分隔符时,对当前的列序号递增并转入下一列中进行读取。

6.一种稀疏校验矩阵的读取装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取待读取的稀疏校验矩阵;

读取模块,用于逐行或逐列读取所述待读取的稀疏校验矩阵中的非0元素;

其中,所述待读取的稀疏校验矩阵通过调用如下模块进行存储获得:

逐行存储模块,用于针对原始稀疏校验矩阵的每一行,逐行存储所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序号,以及所述每一行的行分隔符,所述每一行的行分隔符为所述每一行非0元素的数量;

逐列存储模块,用于针对所述原始稀疏校验矩阵的每一列,逐列存储所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序号,以及所述每一列的列分隔符,所述每一列的列分隔符为所述每一列非0元素的数量,其中,逐行和逐列存储稀疏元素的过程同时进行,所述稀疏元素包括所述稀疏校验矩阵中的非0元素。

7.一种解码器,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至2任一项所述稀疏校验矩阵的存储方法的步骤。

8.一种解码器,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求3至5任一项所述稀疏校验矩阵的读取方法的步骤。

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