[发明专利]一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备

说明书

本发明公开一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。其中，该方法包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组包含n个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果m个内核组中所有具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定待测试的众核芯片无故障。通过本发明，可以节省测试时间。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。

背景技术

芯片制造出来后，需要测试是否在制造过程中存在缺陷故障(Manufacturingdefect)。为了进行这种测试，在芯片设计的时候，设置专门的测试电路(StructuredDesign for Testability(可测试性设备，DFT))，并通过专门的测试电子设计自动化(Electronics Design Automation，EDA)软件产生测试向量(Test pattern)以及期待值。在实际测试时，将测试向量作为芯片的输入激励，同时比较芯片的输出结果与期待值是否相符。如图1所示，相关技术中芯片的每一个内核都要依次进行故障排查，每个芯片也都需要进行测试，这样就需要占用比较多的芯片管脚用于加载测试向量以及比较输出结果。在芯片管脚总数受限的情况下，只能将芯片划分为多个子模块，不同子模块之间复用芯片管脚，但是需要依次串行地进行测试，这样就增加了测试时间，从而增加了芯片成本。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。

为了解决上述技术问题，本发明示例一方面提供一种众核芯片的测试方法，包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。

可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否相同。

可选地，在所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下，所述方法还包括：步骤1，比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，如果完全相同，则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障，且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组；如果不完全相同，执行步骤2；步骤2，判断m-1是否等于2，如果是，则确定所述m-1个内核组为故障组，否则，继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，直到确定出故障组。

可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较结果判断所述故障组中的所述每个内核是否出现故障。

可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：从所述m个内核组中选取第一内核组，比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。