[发明专利]一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备有效

专利信息
申请号: 201811630342.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111381147B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 孟樑;阎亚茹 申请(专利权)人: 北京灵汐科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京麦宝利知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11733 代理人: 赵艳红
地址: 100080 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种众核芯片的测试方法,其特征在于,包括:

向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量,其中,所述众核芯片的内核包括m个内核组,所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核,所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识,且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同,其中,m为大于2的整数,n为大于1的整数;

判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同;

如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同,则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同,包括:

比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否相同。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下,所述方法还包括:

步骤1,比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同,如果完全相同,则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障,且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组;如果不完全相同,执行步骤2;

步骤2,判断m-1是否等于2,如果是,则确定所述m-1个内核组为故障组,否则,继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同,直到确定出故障组。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在确定出故障组之后,所述方法还包括:

将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚,与所述测试向量的期待值进行比较,根据比较结果判断所述故障组中的所述每个内核是否出现故障。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同,包括:

从所述m个内核组中选取第一内核组,比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,如果所述第一内核组与所述其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的两个内核输出的所述测试结果向量不完全相同,所述方法还包括:

将所述第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较,如果所述第一内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致,则确定所述第一内核组为故障组。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,如果所述第一内核组中的所述每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值一致,所述方法还包括:

确定所述第一内核组中的各个内核无故障;

将所述其余m-1个内核组作为待判定内核组;

如果待判定内核组中只有一个内核组,则确定所述待判定内核组为故障组;否则,

从所述待判定内核组中选取第二内核组,将所述第二内核组分别与所述m-1个内核组中除所述第二内核组之外的m-2个内核组进行比较;

如果所述第二内核组与所述m-2个内核组的组内标识相同的内核进行两两相比的结果不完全相同,则将所述第二内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值比较,如果比较结果不一致,则确定所述第二内核组为故障组,如果比较结果一致,则确定所述第二内核组为非故障组,将所述待判定内核组中的除所述第二内核组之外的其余m-2个内核组作为新的待判定内核组,继续进行判断,直到所述m个内核组全部判断完毕。

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