[发明专利]电荷重分配型SARADC电容失配校正方法及系统

权利要求书

1.电荷重分配型SARADC电容失配校正方法，其特征在于：包括以下步骤，

计算SARADC的直流失配DC_err；

基于DC_err，计算除第1位电容外其他电容的校正系数；具体计算第n位电容校正系数的过程为：

控制第n位电容C_n采样参考高电平Reft，控制其他电容采样参考低电平Refb，控制大于等于第n位电容C_n输出为0；

第n位电容校正系数为，

其中，Ke_n为第n位电容校正系数，Ke_i为第i位电容校正系数，i∈[2,n-1]，S_n为SARADC当前实际输出，T_n为SARADC当前理论输出，D_i为第i位电容对应的二进制位输出结果；

存储校正系数，SARADC正常工作时调用校正系数，对SARADC输出进行校正。

2.根据权利要求1所述的电荷重分配型SARADC电容失配校正方法，其特征在于：计算DC_err的过程为，将SARADC的差分输入端短接，测量获得的SAR ADC输出DC_out为DC_err。

3.根据权利要求1所述的电荷重分配型SARADC电容失配校正方法，其特征在于：输出校正过程为，若某电容对应的二进制位输出结果为1，则SARADC输出加上输出结果为1的二进制位对应电容的校正系数；若某电容对应的二进制位输出结果为0，则SARADC输出内不需要处理。

4.电荷重分配型SARADC电容失配校正系统，其特征在于：包括，

直流失配计算模块：计算SARADC的直流失配DC_err；

校正系数计算模块：基于DC_err，计算除第1位电容外其他电容的校正系数；

校正系数计算模块计算第n位电容校正系数的过程为：

控制第n位电容C_n采样参考高电平Reft，控制其他电容采样参考低电平Refb，控制大于等于第n位电容C_n输出为0；

第n位电容校正系数为，

其中，Ke_n为第n位电容校正系数，Ke_i为第i位电容校正系数，i∈[2,n-1]，S_n为SARADC当前实际输出，T_n为SARADC当前理论输出，D_i为第i位电容对应的二进制位输出结果；

校正模块：存储校正系数，SARADC正常工作时调用校正系数，对SARADC输出进行校正。

5.根据权利要求4所述的电荷重分配型SARADC电容失配校正系统，其特征在于：直流失配计算模块中计算DC_err的过程为，将SARADC的差分输入端短接，测量获得的SAR ADC输出DC_out为DC_err。

6.根据权利要求4所述的电荷重分配型SARADC电容失配校正系统，其特征在于：校正模块中输出校正过程为，若某电容对应的二进制位输出结果为1，则SARADC输出加上输出结果为1的二进制位对应电容的校正系数；若某电容对应的二进制位输出结果为0，则SARADC输出内不需要处理。

7.一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质，其特征在于：所述一个或多个程序包括指令，所述指令当由计算设备执行时，使得所述计算设备执行根据权利要求1至3所述的方法中的任一方法。

8.一种计算设备，其特征在于：包括，

一个或多个处理器、存储器以及一个或多个程序，其中一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行根据权利要求1至3所述的方法中的任一方法的指令。