[发明专利]一种存储器电压测试的测试装置、芯片及方法

权利要求书

1.一种存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述装置包括电压调节器和控制处理器，所述电压调节器和所述控制处理器均连接于所述存储器；

所述电压调节器，用于输出电压给所述存储器，调节所述存储器的第一供电电压和第二供电电压；

所述控制处理器，用于对所述存储器进行数据的写入和读取，并根据数据写入和读取所得到的比较结果，控制所述电压调节器的输出电压，以及得到由所述第一供电电压和所述第二供电电压产生的最大电压差。

2.根据权利要求1所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述控制处理器包括数据比较器和BIST控制电路，所述数据比较器的输入端与所述存储器的输出端连接，所述BIST控制电路的输入端与所述数据比较器的输出端连接，所述BIST控制电路的输出端分别与所述电压调节器的输入端和所述存储器的输入端连接；其中，

所述数据比较器，用于读取存储器的数据，得到第一数据，将所述第一数据与写入存储器的第二数据进行比较，生成所述比较结果；

所述BIST控制电路，用于根据所述比较结果，控制所述电压调节器的输出电压，以及确定所述最大电压差。

3.根据权利要求2所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述BIST控制电路的输出端还与所述数据比较器的输入端连接，用于向所述数据比较器发送使能信号。

4.根据权利要求2所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述BIST控制电路在所述比较结果为一致时控制所述电压调节器调节输出电压；在所述比较结果为不一致时控制所述电压调节器保持当前的输出电压不变，确定所述最大电压差。

5.根据权利要求1所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述电压调节器根据所述控制处理器的控制信号，增加所述第一供电电压与所述第二供电电压之间的供电电压差值。

6.根据权利要求5所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述电压调节器根据控制处理器的控制信号，保持所述第一供电电压不变，增加所述第二供电电压。

7.根据权利要求5所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述电压调节器根据控制处理器的控制信号，调整所述第一供电电压与所述第二供电电压保持一致后，保持所述第二供电电压不变，增加所述第一供电电压。

8.根据权利要求1所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述装置封装于芯片内部。

9.根据权利要求1所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述装置还与测试机台连接，所述测试机台的输入端分别与所述控制处理器的输出端和所述存储器连接，所述测试机台的输出端分别与电压调节器的输入端和控制处理器的输入端连接。

10.根据权利要求1所述的存储器电压测试的测试装置，其特征在于，所述存储器包括相互连接的存储阵列和外围电路，所述存储阵列由所述第一供电电压供电，所述外围电路由所述第二供电电压供电。

11.一种存储器电压测试的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

控制处理器向电压调节器发出控制信号，调节第一供电电压与第二供电电压之间的供电电压差值为零；

向所述存储器写入第二数据；

读取所述存储器内的第一数据；

在所述第二数据与所述第一数据一致时，控制电压调节器增加所述供电电压差值，并返回读取所述存储器内的第一数据的步骤；

在所述第二数据与所述第一数据不一致时，读取所述供电电压差值，得到所述存储器的最大电压差。

12.根据权利要求11所述的存储器电压测试的测试方法，其特征在于，控制电压调节器增加所述供电电压差值，包括：

在所述第二供电电压大于所述第一供电电压时，控制电压调节器保持所述第一供电电压不变，增加所述第二供电电压。